Методы управления технологическим процессом контроля и наладки промышленного оборудования

• Автор: Дунаев, Михаил Павлович
• Шифр специальности: 05.13.06
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2004
• Место защиты: Иркутск
• Количество страниц: 329 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ. Технология наладки оборудования. Структура технологического процесса наладки оборудования. Способы поиска дефектов. Метод последовательного функционального анализа. Метод половинного деления. Метод П. Анализ программных продуктов с искусственным интеллектом. Обзор технических экспертных систем. Вывода
2. Метод поиска по критериям времени и относительной доступности. Метод поиска по критериям времени и относительной вероятности. Эффективность алгоритмов диагностирования. КОМПЛЕКСНЫЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ И НАЛАДКИ ОБОРУДОВАНИЯ. Основы комплексного метода контроля и наладки. Базисные понятия метода. Математические условия реализуемости метода. Процедура метода. Создания демонстрационного прототипа экспертной системы 7 3. Описание задачи. Общее структурирование знаний. Выводы. Логическую модель СУЭГ1 рис. Определение минимальных совокупностей элементарных проверок можно осуществить, воспользовавшись графотонологическим методом определения полных неизбыточных совокупностей элементарных проверок 3.


СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ. Технология наладки оборудования. Структура технологического процесса наладки оборудования. Способы поиска дефектов. Метод последовательного функционального анализа. Метод половинного деления. Метод П. Анализ программных продуктов с искусственным интеллектом. Обзор технических экспертных систем. Вывода
2. Метод поиска по критериям времени и относительной доступности. Метод поиска по критериям времени и относительной вероятности. Эффективность алгоритмов диагностирования. КОМПЛЕКСНЫЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ И НАЛАДКИ ОБОРУДОВАНИЯ. Основы комплексного метода контроля и наладки. Базисные понятия метода. Математические условия реализуемости метода. Процедура метода. Создания демонстрационного прототипа экспертной системы 7 3. Описание задачи. Общее структурирование знаний. Выводы. Логическую модель СУЭГ1 рис. Определение минимальных совокупностей элементарных проверок можно осуществить, воспользовавшись графотонологическим методом определения полных неизбыточных совокупностей элементарных проверок 3. С этой целью произведем ранжирование графа логической модели рис. По ранжированной логической модели рис. В результате этой процедуры получаем полную неизбыточную совокупность элементарных проверок СУЭП 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, которой соответствует минимальная совокупность элементарных проверок Ъ2, Ъз, 7. Рис. Таблица 1. Рассмотрим основные методы реализации элементарных проверок.