Разработка методологических основ структурно-параметрического моделирования производства изделий радиоэлектроники

• Автор: Баскин, Владимир Анатольевич
• Шифр специальности: 05.02.22
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2005
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 229 с. : ил.

Условные обозначения и сокращения

Глава 1. Методология проектирования современных КИС

1.1. Основные понятия и определения проектирования КИС

1.2. Краткий обзор развития массовых ИС

1.3. Эволюция современные КИС предприятия

1.4. Недостатки стандартизации и проектирования КИС

1.5. Выводы по главе 1. Постановка задач исследования

Глава 2. Разработка и исследование теоретических основ моделирования архитектуры производства ИРЭ

2.1. Проблемы описания ИО СВС и технологий ИРЭ

2.2. Исследование принципов моделирования архитектуры СВС

2.3. Разработка математической модели описания рабочего места

2.5. Разработка дерева классификации технологий и ресурсов СВС
2.6. Выводы по главе
Глава 3. Разработка и внедрение методологических основ проектирования ИОКИС
3.1. Методология технологического развития производства ИРЭ
3.2. Постановка задач математического моделирования ИО КИС
3.3. Разработка методов структуризации и оценивания данных ИО
3.4. Разработка методов интеграции данных ИО
3.5. Модели и форматы подготовки исходных данных ИО КИС
3.6. Выводы по главе
Глава 4. Разработка и внедрения алгоритмов формирования

архитектуры ИО КИС
4.1. Общие требования к структуре и функциям ИО КИС предприятия
4.2. Анализ традиционных и предлагаемых методов описания ИО
4.3. Разработка методов спецификации кортежей и портретов ИО КИС
4.4.Разработка алгоритмов структуризации данных ИО
4.5. Разработка структуры электронного архива ИО КИС
4.6. Выводы по главе
Глава 5. Разработка и внедрение методов диагностики
несоответствий объектов контроля
5.1. Недостатки действующих систем анализа и диагностики НОК
5.2. Разработка формальной модели Т-операции
5.3. Разработка алгоритма анализа данных о НОК
5.4. Применение ИО мониторинга для решения задач СД НОК
5.5. Система менеджмента качества и диагностики несоответствий
5.6. Разработка и внедрение программы анализа значимости НОК
5.7. Выводы по главе
Глава 6. Разработка и внедрение программно-методического комплекса СП-методологии
6.1. Основные эксплуатационные характеристики программнометодического комплекса
6.2. Структура данных информационной системы ПМК
6.3. Особенности реализации информационной системы ПМК
6.4. Редактирование таблиц данных ПМК
6.5. Формирование маршрута
6.6. Работа с разделами и подразделами ПМК
6.7. Выводы к главе

Глава 7. Разработка математических и СП-моделей производства
7.1. Основные показатели предприятий и технологий
7.2. Разработка алгоритмов СП-моделирования технологий
7.3. Пример структурно-параметрического и математического описания технологии
7.4. Методы спецификации кортежей и параметрических портретов
7.5. Информационное и организационное взаимодействие РМ
7.6. Методы верификации портретов и кортежей ИО КИС
7.7 Форматы сбора данных ИО для поддержки мониторинга,
менеджмента качества и диагностики несоответствий
7.8. Выводы по главе
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ
Список использованных источников
ПРИЛОЖЕНИЕ 1. Перечень показателей и критериев качества, рекомендуемых для включения в состав параметрических
портретов производства и технологий
ПРИЛОЖЕНИЕ 2. Архитектурные особенности естественных и искусственных технологий

Метод СПО отображает структуру, функции, связи и показатели эффективности СВС на отраслевом уровне (в предметной области), но может эффективно применяться и на нижнем уровне. Суть метода основана на описании деятельности любого предприятия по данным документации (законы, постановления и указы, внешние и внутренние стандарты, уставы, инструкции, планы и т.д.). Полный набор документов предприятия содержит необходимые исходные параметры для адекватного описания СП- портрета предприятия таким, каким оно должен быть - множество 1!(Х,У,2). Мониторинг параметров портрета по фактическим (измеренным) показателям -множество №'(Х,У,г) - позволяет сопоставить требуемые и фактические значения и(Х,У,г)/ У(Х,У,2) и на этой основе судить о степени соответствия «реальных» портретов СППд требованиям, выявлять НОК и указывать на вид и место возникновения несоответствий. При этом формируются кортежи данных обо всех объектах контроля на предприятии, из которых создается мгновенный структурно-параметрический портрет предприятия СППМ в том же формате, что и СППд. Оба портрета существуют в ИО в виде матриц, операции с которыми хорошо отработаны. Накладывая СППМ на СППд, получаем матрицу несоответствий (НОК). Легко видеть, что количество, качество и динамика изменений НОК во времени является наиболее значимой и практически всеобъемлющей информацией о состоянии производства.
С целыо оценки возможности и целесообразности внедрения этих методов в практику, ниже описаны методы формирования ИО СВС и технологий, включая выбор необходимого и достаточного состава показателей эффективности деятельности на всех уровнях (рабочих мест, подразделений и предприятия), что позволяет отслеживать динамику изменений показателей, производить оценку и сравнение с аналогичными объектами как отечественными, так и зарубежными.