Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
- Автор:
Усеинов, Алексей Серверович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Закономерности оптических и колебательных спектров твердых растворов Ti1-xCuxInS2(0≤X≤0,015) | Матиева, Тоита Ахметовна | 2008 |
| Фотоэлектрические процессы в объемных каналах полупроводниковых структур | Гордо, Наталья Михайловна | 2001 |
| Туннельная спектроскопия двумерной электронной системы приповерхностного дельта-легированного слоя в GaAs | Котельников, Игорь Николаевич | 2007 |