Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
- Автор:
Усеинов, Алексей Серверович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Взаимодействие водорода с дислокационными сетками сращенных пластин кремния | Лошаченко, Антон Сергеевич | 2018 |
| Субструктура и оптические свойства гетероструктур на основе А3В5 | Середин, Павел Владимирович | 2012 |
| Поверхностная миграционная нестабильность МДП - структур | Славова, Магдалена Ламбова | 1985 |