Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии
- Автор:
Усеинов, Алексей Серверович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии», автор — Усеинов, Алексей Серверович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Москва в 2004 году. Объем работы: 131 с. : ил.. Внутренний код товара: 01002622258. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электронная структура границ раздела Cs/InGaN, Cs/GaN, Ba/GaN, Ba/AlGaN и формирование аккумуляционного слоя | Тимошнев, Сергей Николаевич | 2011 |
| Жидкокристаллические композиты с индуцированной холестерической спиралью, стабилизированной сетчатым полимером | Самсонова, Ирина Викторовна | 2000 |
| Роль морфологии в формировании электронных спектров, оптических и электрофизических характеристик тонких пленок a-Si: Н, а-С: Н и а-Si1-x Cx : Н | Лигачев, Валерий Алексеевич | 1998 |