Атомно-силовая микроскопия кристаллов и пленок со сложной морфологией поверхности
- Автор:
Толстихина, Алла Леонидовна
- Шифр специальности:
01.04.18
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
333 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Рентгеноструктурные исследования монокристаллов твердых растворов семейства KTiOPO4 | Ли Донг Юн | 1998 |
| Атомно-силовая микроскопия сегнетоэлектрических кристаллов ТГС | Гайнутдинов, Радмир Вильевич | 2005 |
| Влияние рельефа подложек лейкосапфира на процессы роста эпитаксиальных пленок теллурида кадмия и частиц золота | Муслимов, Арсен Эмирбегович | 2012 |