Методическое и информационное обеспечение рентгенофлуоресцентного анализа горных пород

• Автор: Борходоев, Владимир Яковлевич
• Шифр специальности: 02.00.02
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Магадан
• Количество страниц: 324 с.

ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ А - атомная масса
С{ - содержание (массовая доля) / компонента в пробе (химического
элемента, его соединения)
Е0, Е - энергия электронов, соответствующая У0 , энергия
Еч - энергия ионизации д-оболочки
/ - интенсивность рентгеновского излучения
А, 1е - спектральная интенсивность рентгеновского излучения
,/ - средний потенциал ионизации атома
Ад - число Авогадро
РЧ1 - вероятность возбуждения /-линии д-ссрии
(А -поперечное сечение ионизации электронами д- оболочки
К - относительная интенсивность, фактор обратного рассеяния
электронов
Гц -вероятность поглощения д-оболочкой
51 - тормозная способность вещества для электронов
Яд - скачок поглощения д-оболочки
Ц Е'о - перенапряжение
Ко, V - ускоряющий потенциал, потенциал
2 - атомный номер элемента
ау - коэффициент влияния элемента / на элемент /, а- коэффициент
ц - коэффициент обратного рассеяния электронов
сКд/сГк - угловая дисперсия
ко - коротковолновая граница непрерывного спектра
к, к, - длина волны рентгеновского излучения
кд - длина волны края поглощения д-серии

XIс1Х - разрешающая сила
сШХ - относительное спектральное разрешение
ц - массовый коэффициент ослабления
Ц/ - линейный коэффициент ослабления
ца - атомный коэффициент ослабления
ц,у - массовый коэффициент ослабления элементом / излучения
элемента I
с - массовый коэффициент рассеяния, коэффициент Ленарда,
постоянная экранирования т - массовый коэффициент фотоэлектрического поглощения
(р - угол падения первичного рентгеновского излучения
\/ - угол отбора регистрируемого рентгеновского излучения
(яд - выход флуоресценции д-оболочки
АО - анализируемый образец
БД - база данных
КДС - кристалл-дифракционный спектрометр
МКО - массовый коэффициент ослабления
МНК - метод наименьших квадратов
МФП - способ (метод) фундаментальных параметров
ОС - образец сравнения
ГЖ - персональный компьютер
ПО - программное обеспечение
ППД - полупроводниковый детектор
ППП - потери при прокаливании
РЗЭ - редкоземельные элементы
РСА - рентгеноспектральный анализ
РТ - рентгеновская трубка

РФ - рентгеновская флуоресценция
РФА - рентгенофлуоресцентный анализ
РЭМ - растровый электронный микроскоп
СОС - стандартный образец состава
ТУ - терминальное устройство (дисплей, телетайп)
ФП - фундаментальные параметры
ХРИ -характеристическое рентгеновское излучение
ЭДРФА - энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализ
ЭДС - энергодисперсионный спектрометр
ЭЗРА - электронно-зондовый рентгеноспектральный анализ

Выражения для расчета третичной РФ получены в работах [57, 75, 76], для вычисления дополнительного вклада в интенсивность аналитической линии за счет рассеяния - в работах [51, 78], за счет оже-электронов - в работах [51, 82, 84]. В связи с тем, что вклад третичной РФ, рассеяния и оже-электронов в возбуждение излучения аналитических линий элементов с 1 > 11 незначителен, коррекция этих эффектов в данной работе не рассматривается.
1.3.3. Расчет содержаний элементов
Массовую долю элемента г находят по формуле
где с°с - массовая доля определяемого элемента i в ОС; /°с - интенсивность аналитической линии от ОС, из решения системы уравнений получают
Здесь I, - интенсивность аналитической линии от АО (пробы). Введя обозначения

О+Уг)
Записывая такое же выражение для ОС

у ОС

(1.20)
(1.21)
-0+уГ )/0+у, ),
(1.22)