Электронная структура дефектов в оксиде и нитриде кремния
- Автор:
Новиков, Юрий Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
139 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические исследования тонких пленок молекулярных органических полупроводников фталоцианинового ряда | Колосько, Анатолий Григорьевич | 2009 |
| Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии | Кусакин Дмитрий Сергеевич | 2017 |
| Генерационно-рекомбинационные процессы в неоднородных полупроводниковых структурах | Грушко, Наталия Сергеевна | 1999 |