Исследование методом эллипсометрии диэлектрических и полупроводниковых структур микроэлектроники
- Автор:
Резвый, Ростислав Ростиславович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1998
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
65 с. : ил.; 20х15 см
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические свойства монокристаллов теллурида цинка, легированных примесями переходных элементов группы железа | Жмурко, Александр Иванович | 1984 |
| Теория фазовых переходов в неоднородные состояния, обусловленных кулоновским взаимодействием, в полупроводниках и сегнетоэлектриках | Ченский, Евгений Васильевич | 1985 |
| Кристаллическая структура и оптоэлектронные свойства кремниевых диодов со встроенными нанокристаллами полупроводниковой фазы дисилицида железа | Шевлягин, Александр Владимирович | 2019 |