Создание упорядоченных систем магнитных нанообъектов и исследование их свойств

• Автор: Фраерман, Андрей Александрович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2000
• Место защиты: Нижний Новгород
• Количество страниц: 252 с. : ил.

Содержание
Введение
Глава 1 Метод малоугловой рентгеновской дифракции для определения параметров структур из сверхтонких пленок
1.1 Приближение среднего поля для описания отражения рентгеновского излучения от многослойных структур с шероховатыми границами раздела слоев
1.2 Отражение рентгеновского излучения от многослойных структур с флуктуирующими толщинами пленок
1.3 Методика определения параметров многослойных структур из сверхтонких пленок
Глава 2 Физические принципы получения и магнитные свойства многослойных структур Co/Pd
2.1 Влияние дефектов на величину поверхностной магнитной анизотропии в многослойных структурах: модель псевдодипольного взаимодействия
2.2 Получение и экспериментальное исследование магнитных свойств многослойных структур Co/Pd с перпендикулярной анизотропией
2.3 Термоиндуцированный ориентационный переход в многослойных структурах Co/Pd
Глава 3 Особенности диффузии в многослойных структурах из поликристаллических пленок
3.1 Экспериментальные исследования диффузии в многослойных структурах Ме/С
3.2 Модель зернограничной диффузии в тонких пленках: влияние флуктуаций коэффициента диффузии

3.3 Деформационное взаимодействие примесных атомов
в случайной неоднородной упругой матрице
Глава 4 Нелинейная динамика межфазных границ в многослойных структурах
4.1 Модель распадающегося твердого раствора и вывод основных уравнений
4.2 Динамика одномерного зародыша в распадающихся растворах
4.3 Спинодальный распад в многослойных структурах
4.4 Устойчивость плоских межфазных границ в распадающихся растворах
Глава 5 Использование процессов самоорганизации для создания низкоразмерных наноструктур
5.1 Спектр концентрационных волн и возможность формирования периодических структур в тонкой пленке распадающегося твердого раствора
5.2 Неустойчивость поверхности твердого тела при химическом травлении и получение системы ферромагнитных нитей в матрице кремния
5.3 Магнитные свойства системы ферромагнитных нитей в пористой матрице
Глава 6 Коллективные эффекты в двумерных решетках ферромагнитных наночастиц, обусловленные ди-польным взаимодействием
6.1 Метастабильное состояние дипольной системы с ферромагнитным типом упорядочения. Неустойчивость при перемагничивании

6.2 Вихри и доменные стенки в дипольной системе с упорядочением ферромагнитного типа
6.3 Неоднородные состояния и механизмы перемагничи-вания в решетках диполей с прямоугольной элементарной ячейкой
6.4 Экспериментальное наблюдение коллективных эффектов в решетках наночастиц пермаллоя с прямоугольной элементарной ячейкой
Заключение

адии связанные с шероховатостями границ раздела слоев и флуктуации средних по шероховатостям толщин пленок. В случае шероховатостей задача становится неодномерной, что существенно затрудняет ее решение. Существует обширная литература, посвященная влиянию шероховатостей на отражательные характеристики М.С. ([27], [28], [29], [30]). В первом параграфе этой главы излагается предложенный нами метод среднего поля ([31], [32], [33]). Отличительной особенностью этого подхода является отсутствие жестких ограничений на соотношение размеров шероховатостей и длины волны рентгеновского излучения. Статистически независимые флуктуации средних по шероховатостям толщин пленок, как будет показано ниже, приводят к сильным флуктуациям коэффициента отражения. Это означает, что средний коэффициент отражения характеризует ансамбль идентичных структур, но не каждую в отдельности (второй параграф этой главы). При определении статистических характеристик таких флуктуаций нами использовалась процедура фурье-анализа угловых зависимостей коэффициента отражения, впервые предложенная в работе [4].
С наибольшими трудностями метод малоугловой рентгеновской дифракции сталкивается при определении параметров многослойных структур из сверхтонких (~ 1пт) пленок, для которых наблюдается лишь один брэгговский максимум. Отсутствие (или малость) отражения в высших порядках брэгговской дифракции обусловлено размытием границ раздела. Основанный на анализе угловой зависимости коэффициента отражения в угловом диапазоне захватывающем не менее трех брэгговских максимумов, метод малоугловой рентгеновской дифракции неприменим к короткопериодным М.С. Отметим, что такие методы диагностики как метод стоячих волн [34] и анализа диффузной компоненты рассея-