Развитие метода фотоупругих покрытий для исследования деформаций микрообластей типа зерен металла

• Автор: Шабанов, Александр Петрович
• Шифр специальности: 01.02.04
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1998
• Место защиты: Новосибирск
• Количество страниц: 253 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ
РАЗДЕЛ I. РАЗВИТИЕ МЕТОДА ФОТОУПРУГИХ ПОКРЫТИЙ
I. ВЛИЯНИЕ НЕМОНОХРОМАТИЧНОСТИ ИСТОЧНИКА СВЕТА
НА ФОТОУПРУГИЙ ЭФФЕКТ
1.1. Общие положения
1.2. Экстремумы и точки перегиба
1.3. Определение ОРХ с использованием методов
фотометрирования фотоупругой картины
1.4. Частные случаи. Оптические фильтры с прямоугольной
и синусоидальной полосой пропускания
1.5. Эксперимент
1.6. Использование белого света. Расшифровка цветной
фотоупругой картины
1.7. Выводы
II. МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКОЙ КОМПЕНСАЦИИ В ФОТОУПРУГОСТИ
2.1. Общие понятия и определения
2.2. Описание интенсивности света на выходе из полярископа.
Компенсация в точке и по полю модели
2.3. Фоторегистрирующие устройства. Регистрация фотоупругой
картины. Понятие контраста оптической информации
2.4. Симметричный полярископ
2.4.1. Накладной иммерсионный компенсатор
2.4.2. Компенсация при вращении креста поляризации
2.4.3. Компенсация при вращении фазовой пластинки
2.5. Квазисимметричный полярископ
2.5.1. Компенсация при вращении анализатора
2.5.2.Компенсация по Тарди
2.5.3. Компенсация при изменении ОРФ в одной из фазовых пластинок
2.5.4. Компенсация при вращении фазовой пластинки
2.6. Несимметричный полярископ
2.6.1. Обобщенный метод Сенармона
2.6.2. Метод Сенармона
2.6.3.Компенсация по методу Бабине
2.6.4. Вращение четвертьволновой пластинки
2.7. Анализ погрешности определения параметров двулуче-
преломления при использовании компенсации по полю модели
2.7.1. Симметричный полярископ
2.7.2. Квазисимметричный полярископ
2.7.3. Несимметричный полярископ
2.8. Ширина полосы интерференции. Погрешности определения
центра полосы
2.8.1. Симметричный полярископ. Накладной иммерсионный
компенсатор
2.8.2. Квазисимметричный полярископ. Метод Тарди
2.8.3. Несимметричный полярископ. Метод Сенармона
2.9. Размытие фотоупругой картины при компенсации по полю
модели
2.9.1. Симметричный полярископ
2.9.2. Квазисимметричный полярископ
2.9.3. Несимметричный полярископ
2.10. Тестовый пример
2.11. Выводы
РАЗДЕЛ II. ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОДЕФОРМАЦИЙ
III. ОБЗОР ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ
МИКРОДЕФОРМАЦИЙ
3.1. Статистическое металловедение. Теоретические методы механики
сплошной среды
3.2. Расчетные способы исследования деформирования поликристал-лического тела, основанные на дислокационных представлениях
о пластической (необратимой) деформации
3.3. Экспериментальные методы
3.3.1. Анализ микродеформаций по изменению формы зерна
3.3.2. Метод рисок
3.3.3. Метод сеток
3.3.4. Метод реперных точек
3.3.5. Интерференционный метод
3.3.6. Метод фотоупругости
3.3.6.1. Исследование напряжений около дислокаций в монокристаллах
3.3.6.2. Моделирование реальных поликристаллических объектов
при помощи «прозрачных металлов»- галоидов серебра и таллия
3.3.6.3. Метод тонких фотоупругих покрытий
3.3.7. Методы спекл-интерферометрии, голографии, микромуара
3.3.7.1. Спекл-интерфереметрия
3.3.7.2. Метод голографической интерферометрии
3.3.7.3. Метод микромуара
3.4. Выводы
IV. ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
4.1. Аппаратура
4.1.1. Микроскоп
4.1.2. Нагрузочное устройство
4.1.3. Компенсатор
4.2. Технология изготовления образцов
4.2.1. Изготовление фотоупругого покрытия
4.2.2. Измерение толщины фотоупругого покрытия
4.2.2.1. Измерение толщины покрытия при помощи микрометра
4.2.2.2. Измерение толщины покрытия при помощи профилометров (вертикального оптиметра)
4 8 12 16 20 п
Рис. 1.6. График изменения экстремальных значений интенсивности света для прямоугольной функции спектральной плотности.
Следует оговориться, что, несмотря на то, что графики представлены в виде непрерывных линий, смысл они имеют только в тех точках, которые выделены кружочками.
В отличие от рассмотренного выше случая, фильтры с синусоидальной полосой пропускания ближе к реальным. Пусть
С учетом (1.36), взяв предварительно интеграл в соотношении (1.14), равенство (1.13) преобразуем к виду:

А < А0 — ДА.
А0 - ДА < А < А0 + ДА . (1.36)
А > А0 + ДА

(1.37)