Разработка методики оценки допустимых уровней дефектности тонких металлических пленок : Применительно к сборке ИС в полимерные корпуса
- Автор:
Тыщишин, Василий Васильевич
- Шифр специальности:
05.27.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование процесса и разработка установки финишной обработки микроприборов потоком твердых частиц | Угольников, Сергей Викторович | 1998 |
| Разработка методов и средств контроля параметров рекуперации реагентов в безотходных технохимических процессах планарного микроэлектронного производства | Хаханин, Сергей Юрьевич | 2000 |
| Моделирование и проектирование электронно-оптических систем оборудования для электронной литографии | Балашов, Владимир Николаевич | 1998 |