Исследование твердотельных микро- и наноструктур методом спектроскопии отраженных электронов
- Автор:
Лукашевский, Михаил Владимирович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
183 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрические и фотоэлектрические свойства диодных структур на основе полупроводниковых соединений А3 В5 | Фетисова, Валентина Михайловна | 2002 |
| Технологические процессы и реакторы плазмохимического травления микроструктур элементов СБИС | Гомжин, Иван Васильевич | 2003 |
| Микроволновые фотоэлектрические свойства двухэлектродных полупроводниковых структур | Шибаев, Станислав Сергеевич | 2006 |