Исследование твердотельных микро- и наноструктур методом спектроскопии отраженных электронов
- Автор:
Лукашевский, Михаил Владимирович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
183 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии | Фадеев, Алексей Владимирович | 2014 |
| Разработка и исследование технологических основ процесса фотонностимулированного локального анодного окисления наноструктур на основе Si/SiO2/Ti | Смирнов, Владимир Александрович | 2008 |
| Разработка алгоритмов вычисления параметров глобального движения в видеопоследовательностях для реализации в системах на кристалле | Миргородский, Александр Юрьевич | 2006 |