Исследование твердотельных микро- и наноструктур методом спектроскопии отраженных электронов
- Автор:
Лукашевский, Михаил Владимирович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
183 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Твердотельные сенсоры на основе пористых пленок с фракталоподобной поверхностью | Смирнов, Андрей Владимирович | 2018 |
| Численное исследование коллективных процессов в микроэлектронных структурах и оптимизация приборов больших интегральных схем | Стрелкова, Надежда Григорьевна | 2009 |
| Разработка и исследование методов повышения быстродействия интегрированного в КМОП маршрут кремний-германиевого гетеропереходного биполярного N-P-N транзистора | Евдокимов, Виталий Дмитриевич | 2017 |