Исследование полупроводниковых наноструктур с массивами квантовых точек и металлических нанокластеров методами сканирующей зондовой микроскопии
- Автор:
Востоков, Николай Владимирович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
148 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка неразрушающих ускоренных методов прогнозирования электромиграционной стойкости металлической разводки интегральных схем | Сафонов, Сергей Олегович | 2015 |
| Физико-технологические основы формирования трехмерных микроструктур УБИС плазменными методами | Путря, Михаил Георгиевич | 2002 |
| Высокочастотная система фазовой автоподстройки частоты, интегрированная в программируемую логическую интегральную схему | Быстрицкий, Сергей Алексеевич | 2013 |