Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур
- Автор:
Коломийцев, Алексей Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Таганрог
- Количество страниц:
187 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур», автор — Коломийцев, Алексей Сергеевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Таганрог в 2011 году. Объем работы: 187 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004986763. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотоприемные структуры на основе аморфного гидрогенизированного кремния | Богданов, Александр Александрович | 2000 |
| Разработка функциональной модели программируемой логической интегральной схемы типа программируемой пользователем вентильной матрицы с одноуровневой структурой межсоединений | Мотылёв, Максим Сергеевич | 2013 |
| Разработка глобального метода экстракции статических Spice параметров микроэлектронных приборов на основе моделирования вольтамперных характеристик | Корчагин, Александр Федорович | 2006 |