Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур
- Автор:
Коломийцев, Алексей Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Таганрог
- Количество страниц:
187 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка технологии создания мемристоров на основе композитных материалов | Горшков, Константин Викторович | 2012 |
| Структурные и оптические свойства нанометровых модулированно-легированных гетероструктур с квантовыми точками в системе InAs/GaAs | Пак Хи Сок | 2002 |
| Разработка и исследование технологических основ формирования ориентированных массивов углеродных нанотрубок для чувствительных элементов газовых сенсоров | Ильин, Олег Игоревич | 2015 |