Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур
- Автор:
Душкин, Игорь Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
93 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка конструктивно-технологических методов улучшения параметров силовых планарных МОП транзисторов | Швец, Александр Валерьевич | 2003 |
| Формирование и исследование электрофизических свойств планарных структур на основе углеродных нанотрубок | Бобринецкий, Иван Иванович | 2004 |
| Исследование твердотельных микро- и наноструктур методом спектроскопии отраженных электронов | Лукашевский, Михаил Владимирович | 2007 |