Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур
- Автор:
Душкин, Игорь Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
93 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Физико-технологические особенности создания выпрямляющих и омических контактов в кремниевых полупроводниковых приборах и ИС с использованием титана и его соединений | Шевяков, Василий Иванович | 1998 |
| Конструктивно-технологический базис для микросхем радиочастотного диапазона на основе самоформируемых структур | Демидова, Юлия Брониславовна | 2004 |
| Широкополосные источники оптического излучения на основе полупроводниковых суперлюминесцентных диодов | Мамедов, Дмитрий Сергеевич | 2004 |