Субмиллиметровая спектроскопия носителей заряда в напряженных гетероструктурах Ge/GeSi
- Автор:
Молдавская, Мария Давидовна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
165 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностические методы оценки надежности интегральных схем с использованием шумовых параметров | Смирнов, Дмитрий Юрьевич | 2006 |
| Физико-химические особенности ионного синтеза систем с нанокристаллами GaN в матрицах Si, Si3N4 и SiO2 для применения в оптоэлектронике | Суродин, Сергей Иванович | 2018 |
| Разработка методов построения и моделирования интегральных систем оптической коммутации многоядерных УБИС | Денисенко, Марк Анатольевич | 2011 |