Субмиллиметровая спектроскопия носителей заряда в напряженных гетероструктурах Ge/GeSi
- Автор:
Молдавская, Мария Давидовна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
165 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Субмиллиметровая спектроскопия носителей заряда в напряженных гетероструктурах Ge/GeSi», автор — Молдавская, Мария Давидовна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Нижний Новгород в 2000 году. Объем работы: 165 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000274012. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние стехиометрии оптически прозрачных проводящих пленок оксидов индия и олова на их электрофизические и оптические свойства | Гончар, Лариса Исхаковна | 1998 |
| SPICE-модели конденсаторных преобразователей физических величин | Фёдоров, Роман Александрович | 2007 |
| Исследование процессов формирования контактов и границы активного слоя с целью повышения воспроизводимости и улучшения характеристик СВЧ полевых транзисторов | Лапин, Владимир Григорьевич | 2009 |