Повышение качества контроля дефектов автомобильных стекол путем автоматизации процесса

• Автор: Кузьмич, Игорь Владимирович
• Шифр специальности: 05.13.06
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2006
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 122 с. : 40 ил.

Содержание

Перечень символов и сокращений

Введение.
ГЛАВА 1. Анализ современных методов контроля, диагностики и визуализации дефектов автомобильных стекол
1.1. Факторы, влияющие на появление дефектов, классификация дефектов автомобильных стекол
1.2. Известные методы и способы контроля и диагностики дефектов автомобильных стекол

1.3. Визуализация и обработка информации

1.4. Анализ автоматизированных систем контроля и диагностики, основанных на базе ЭВМ

Цели и задачи

ГЛАВА 2. Задачи классификации, алгоритмы классификации дефектов, группы признаков дефектов и оценка геометрических параметров при цифровой фотосъемке

2.1. Задачи классификации

2.2. Алгоритмы классификации
2.3. Основные группы признаков, используемых при распознавании дефектов автомобильных стекол
2.4. Аналитическое исследование взаимосвязи дефектов в
автомобильном стекле с его оптическими свойствами
2.5. Оценка геометрических характеристик объектов на изображениях Выводы по главе 2
ГЛАВА 3. Исследование влияния автоматизированной системы на базе ЭВМ на качество контроля дефектов автомобильных стекол
3.1. Обоснование применения процесса контроля дефектов
автомобильных стекол как объекта автоматизации
3.2. Разработка автоматизированной системы для контроля дефектов
автомобильных стекол
3.3. Методология измерений АС
Выводы по главе 3
Глава 4. Техническое оснащение бесконтактного оптического метода контроля качества автомобильных стекол. Результаты и их анализ
4.1. Технические требования, предъявляемые к АС для контроля качества автомобильных стекол
4.2. Измерительный стенд для контроля дефектов автомобильных стекол
4.3. Геометрическая калибровка камер
4.4. Результаты исследований
Выводы по главе 4.
Заключение
Список использованных источников


В таких системах при ряде ограничений задача анализа двумерных сцен сводится к обработке плоского изображения. Активные системы анализа двумерных сцен принято разделять на системы, формирующие "дальностное" изображение, т. Оба эти способа характеризуются активным взаимодействием с анализируемой сценой. Системы структурированного подсвета, в свою очередь, можно разделить на монокулярные и бинокулярные. С увеличением вычислительной мощности СМВ все большее значение приобретают исследования различных новых подходов к анализу двумерных сцен. Для получения этой информации применяются различные типы сканирующих лазерных дальномерных систем. В подобных СМВ одновременно могут использоваться целенаправленное перемещение сенсоров при активном осмотре сцепы и управляемое изменение освещенности сцены. В дальностных активных методах анализа двумерных сцен подразумевается наличие лазерного сканирующего луча, отраженный сигнал которого несет информацию о структуре сцены. Такие методы позволяют непосредственно определить рельеф сцены, что достигается измерением времени прохождения импульса, генерируемого сканирующим излучателем, определением фазы отраженного сигнала или введением специального стробирования сигналов по дальности [5,1,2]. В последнее время интенсивно развиваются сканирующие лазерные дальнометрические системы с узкой диаграммой направленности. Для сбора информации об исследуемой сцене в состав таких систем введены блоки сканирующего построчного обзора, позволяющие периодически изменять направление луча, вдоль которого измеряется расстояние. Характеристики этих блоков в значительной степени определяют пространственное разрешение всей системы [6,7]. Одна из главных задач, решаемых при формировании общего облика СМВ, заключается в выборе рациональной структурной схемы, т. Оптимальное размещение видеодатчиков и источников структурированного подсвета при решении конкретных задач может привести к существенному повышению информационных возможностей всей системы [,]. Как правило, при анализе двумерных сцен решаемые задачи не являются сложными, поэтому наиболее приемлемым является применение простейшей монокулярной схемы. Монокулярный тип системы в сочетании со структурированным освещением может анализировать несложные трехмерные сцены. Как пассивным, так и активным методам анализа двумерных сцен свойственны достоинства и недостатки. В частности, пассивные методы не требуют специальных источников подсвета, однако в этом случае велико влияние внешних факторов, например, освещение тени рядом находящихся объектов и т. Активные методы позволяют непосредственно получить дальностное изображение вне зависимости от светотехнических свойств объекта и фона. Однако, в этом случае необходимо применение большого количества дорогостоящего оборудования. Ведутся интенсивные работы по созданию различных анализаторов двумерных сцен. Предложены разнообразные схемные решения анализаторов, однако основные трудности, возникающие при их реализации, заключаются в разработке моделей и средств описания априорной информации широкого спектра объектов. Исследуются также некоторые принципиально новые подходы к созданию таких систем. Изучаются, например, возможности создания голографических визуальных анализаторов, в которых при регистрации голограммы на оперативном носителе используются излучения с определенным образом выбранной функцией временной когерентности [4]. В восстановленном после специальной обработки изображении интенсивность сигнала в каждой точке зависит от расстояния до соответствующей точки объекта, т. В некоторых системах комбинируются элементы дву- и трехмерных методов с использованием достоинств тех и других. Когда введением ограничений на форму объекта, условия освещения и другие условия оказывается возможным уменьшить размерность анализируемого изображения, выгоднее применять 2,5-мерные методы активного анализа двумерных сцен [,,7]. Для анализа и распознавания двумерных сцен, требующих применения достаточно сложных методов, используются нейронные вычислительные структуры [ 1,5].