Повышение надежности и производительности программируемых логических контроллеров

• Автор: Сердин, Олег Валерьевич
• Шифр специальности: 05.13.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 150 с. : ил.

Анализ методов повышения надежности и производительности программируемых логических контроллеров. Введение. Требования, предъявляемые к программируемым логическим контроллерам. Промышленные сети. Устройства связи с объектом. Анализ методов повышения производительности профаммируемых логических контроллеров. Методы повышения надежности программируемых логических кон гроллеров
2. Метод периодического сохранения состояния задачи. Увеличение надежности модулей энергонезависимых ЗУ. Ме тод периодического тестирования. Методика определения среднего времени восстановления после сбоя. Программируемые логические контроллеры повышенной надежности . Высокопроизводительный профаммируемый логический контроллер повышенной надежности. Выводы. Методы повышения производительности. Введение. Расчет, произведенной по данной методике, позволяет определить среднее время наработки на отказ ПЛК в зависимости от требуемых условий эксплуатации ПЛК табл. Таблица 3. Изза недостатка справочной информации определить достигнутое среднее время наработки на сбой ПЛК трудно.


Отсюда можно заключить, что достигнутое среднее время наработки ПЛК на сбой меньше среднего времени наработки на отказ не менее чем в 5 раз эти оценочные данные занесены в табл. Из полученных данных следует, что использование электронных компонент, которые применяются в ПЛК, выполненных со степенью зашиты 1. ПЛК, выполненных со степенью защиты до 4. Поэтому ставится следующая научнотехническая задача предложение и обоснование методов увеличения среднего времени наработки на сбой не менее чем на . Для решения сформулированной задачи необходимо сначала провести классификацию ПЛК, а затем определить функциональный состав ПЛК. Среднее время наработки на отказ Тср. Тср. Ь , где I суммарная интенсивность сбоев всех компонент. Данная зависимость используется для расчета среднего времени наработки на отказ и среднего времени наработки на сбой при обосновании предлагаемых методов, повышающих надежность. Основа предлагаемых способов введение высоконадежных простых устройств в системный контроллер, который реализуется на микросхемах ПЛИС. Используя справочные данные , определена величина интенсивности сбоев элементарного элемента ПЛИС транзистора фирма ХШшх, серия ХС. Микросхема этой серии использована при создании системных контроллеров ПЛК. Полученная величина равна 1,7 тР1Т. При подсчете суммарной интенсивности сбоев ПЛК учитывается ненадежность корректирующих устройств. Полученные показатели надежности сравниваются с достигнутыми без коррекции ошибок и делается вывод об эффективности предлагаемых методов. Так при понижении интенсивности сбоев системной памяти в раз, среднее время наработки на отказ ПЛК увеличивается примерно на .