Селективность редоксметрических измерений как основа иодометрического анализа
- Автор:
Каверин, Александр Владимирович
- Шифр специальности:
02.00.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
150 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние кислородной нестехиометрии, условий термообработки и замещений элементов на электрофизические свойства сверхпроводящих фаз Bi2Sr2CaCu2O8+δ и YBa2Cu3O7-δ | Дерягина, Ирина Леонидовна | 2007 |
| Физико-химическое взаимодействие в пятикомпонентной взаимной системе Li,K F,Cl,Br,VO3 | Дорошева, Екатерина Вячеславовна | 2013 |
| Строение двойного электрического слоя и скорость окислительно-восстановительных процессов модельных редокс-пар на поверхности золота, модифицированного серебром и платиной | Доронин, Сергей Викторович | 2017 |