Селективность редоксметрических измерений как основа иодометрического анализа
- Автор:
Каверин, Александр Владимирович
- Шифр специальности:
02.00.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
150 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Тонкие эффекты электронного строения молекул и кристаллов органических и элементоорганических соединений по данным рентгенодифракционного исследования | Лысенко, Константин Александрович | 2001 |
| Кристаллизация и формирование светочувствительности микрокристаллов AgHal различной структуры в фотографическом процессе | Сечкарев, Борис Алексеевич | 1999 |
| Разработка и исследование полиметаллических катализаторов глубокого окисления на основе СВС-интерметаллидов | Пугачева, Елена Викторовна | 2010 |