Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения
- Автор:
Костылева, Ольга Петровна
- Шифр специальности:
02.00.02
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1985
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
165 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Определение кадмия, свинца и меди методом инверсионной кулонометрии на печатных электродах | Наволоцкая, Дарья Владимировна | 2013 |
| Инверсионно-вольтамперометрическое определение мышьяка (III), меди (II) и ртути (II) на электрохимически модифицированных электродах | Ляхов, Антон Борисович | 2004 |
| Обеспечение достоверности аналитической информации в геохимии на основе разработки и применения многоэлементарных стандартных образцов состава | Петров, Лев Львович | 1999 |