Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения
- Автор:
Костылева, Ольга Петровна
- Шифр специальности:
02.00.02
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1985
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
165 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения», автор — Костылева, Ольга Петровна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 02.00.02. Работа подготовлена в городе Москва в 1985 году. Объем работы: 165 c. : ил. Внутренний код товара: 01004027905. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Определение 1,1 - диметилгидразина и продуктов его трансформации методами тандемной хроматомасс-спектрометрии | Ульяновский, Николай Валерьевич | 2015 |
| Прямая сверхкритическая флюидная экстракция из водных растворов полярных органических соединений и их газохроматографическое определение | Кузякин, Станислав Вадимович | 2005 |
| Хроматографическое определение состава пищевых продуктов растительного происхождения и их сорбционные свойства | Лаврушина, Юлия Александровна | 2000 |