Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения
- Автор:
Костылева, Ольга Петровна
- Шифр специальности:
02.00.02
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1985
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
165 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Атомно-ионизационная спектрометрия пламени с лазерным пробоотбором | Муртазин, Айрат Рафитович | 1999 |
| Физико-химические свойства и аналитическое применение сульфоэтилированного хитозана для определения меди и серебра | Петрова, Юлия Сергеевна | 2014 |
| Применение метода ВЭЖХ-ИСП-АЭС для идентификации форм связывания кадмия и ртути в растениях | Романова, Тамара Евгеньевна | 2016 |