Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения
- Автор:
Костылева, Ольга Петровна
- Шифр специальности:
02.00.02
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1985
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
165 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения», автор — Костылева, Ольга Петровна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 02.00.02. Работа подготовлена в городе Москва в 1985 году. Объем работы: 165 c. : ил. Внутренний код товара: 01004027905. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Капиллярный электрофорез в химии родия (III) : Состояние в растворе и каталитическая активность | Алексенко, Светлана Сергеевна | 2000 |
| Композитные пленочные электроды на основе гексациано- или гексахлорометаллатов для вольтамперометрического определения органических соединений | Жалдак, Эльвира Ринатовна | 2015 |
| Определение микроколичеств мышьяка с применением новых вариантов концентрирования и детектирования аналитического сигнала | Абражеев, Ростислав Владиславович | 2002 |