Врожденные пороки развития почек у детей в системе генетического мониторинга в Оренбургском регионе

• Автор: Кузнецова, Вера Николаевна
• Шифр специальности: 14.01.08
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2011
• Место защиты: Оренбург
• Количество страниц: 151 с.

ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение.

Глава I. ОСОБЕННОСТИ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МАКРОАНАЛИЗА

ШНЕРАЛОВ.

I.I. Снижение влияния неопределенности в угле отбора

излучения

1.2. О роли монокристалличности.

1.3. Роль проводящего покрытия

1.4. Нагрев минералов под действием электронного

1.5. Роль элементовпримесей

Выводы.
Глава П. СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ МЕТОДОВ ИСПРАВЛЕНИЯ
ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ
2.1. Оценка методов нахождения поправки на
поглощение
2.2. Совершенствование метода Филибера
2.3. Модель эффективной глубины.
2.4. Оценка методов нахождения поправки на атомный
2.5. Совершенствование методов исправления на
атомный номер
Обсуждение
Выводы.
Глава Ш. Разработка математического обеспечения, предназначенного для вычисления концентраций. . . .
3.1. Программы Сульфид и Силикат
3.2. Программа Карат.
3.3. Программа Дигит
Выводы.
Глава У. РАЗРАБОТКА МЕТОДОВ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ
СОСТАВА ШНЕРАЛОВ.
4.1. Определение состава породообразующих минералов.
4.2. Определение состава минералов руд ртутных
месторождений.
4.3. Определение состава самородного золота
Обсуждение
Глава У. ПРИМЕНЕНИЕ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МАКРОАНАЛИЗА
В ГЕОЛОГИИ.
5.1. Изучение минералов алмазных месторождений. . . .
5.2. Изучение минералов метаморфических пород. . . .
5.3. Изучение минералов магматических пород
5.4. Изучение минералов рудных месторождений
Заключение.
Основные результаты работы
ЛИТЕРАТУРА


Очень важно, в частности, знать, в какой степени покрытие изменяет интенсивность аналитической линии. Этот вопрос уже рассматривался многими исследователями С. Ридом 4,, Т. Светманом и Дж. Лонгом 0 , Л. Е.Лосевой и Н. П.Ильиным , Д. Керриком, Л. Еминхицером и Дж. Виллаумом 5 , однако в длинноволновой области, когда поглощение рентгеновских лучей в пленке становится ощутимым, корректный подход был развит только в работе В. Вейсвейлера 6 . К сожалению, упомянутая работа осталась малоизвестной нам, во всяком случае, не удалось встретить примеров е цитирования кроме того, е автор ограничился численными расчтами для довольно толстой медной пленки. Нам удалось представить изменение интенсивности рентгеновского излучения в аналитическом виде. Воспользуемся представлением о функции, описывающей распределение возбужденного электронами рентгеновского излучения по глубине мишени. Пусть такая функция для исходного образца рис. Тогда регистрируемая интенсивность аналитической линии Т0 может быть найдена путм интегрирования этой функции с учтом абсорбционного множителя в пределах от поверхности до достаточно большей глубины
I0 ЧСреоср15рр2 i , I. I
X i6 параметр поглощения. Рассмотрим теперь образец с покрытием толщиной , считая, что свойства покрытия в отношении торможения и рассеяния электронов совпадают со свойствами образца. Если перенести начало отсчета координаты на поверхность покрытия, то угловое и энергети
Рис. Функция распределения возбужденного электронами рентгеновского излучения по глубине мишени. В. Заштрихован поверхностный слой, толщина которого вдесятеро превышает толщину стандартного покрытия из углерода. Следовательно, не изменится и функция i , исключая только начальную область толщиной , где 0, поскольку покрытие не содержит определяемого элемента. Таким образом, нанесение на образец покрытия толщиной эквивалентно замене излучающего поверхностного слоя такой толщины неизлучающим с параметром поглощения Лпл , поэтому при нахождении интенсивности этой же линии I следует изменить нижний предел интегрирования и величину абсорбционного множителя
I x X5i i x X. Строго говоря, наличие покрытия может изменить и саму функцию , если атомные номера образца и покрытия сильно различаются. Однако, ограничиваясь здесь и в дальнейшем практически важным случаем малой толщины покрытия, будем считать это изменение эффектом второго порядка. Л г г 7 X5i7. V 1. X i
Первый член полученного выражения непосредственно характеризует снижение интенсивности аналитической линии в результате замены излучающего поверхностного слоя неизлучающим и численно равен вкладу поверхностного слоя толщиной i в интенсивность регистрируемого рентгеновского излучения второй определяется различием абсорбционных свойств образца и покрытия и показывает, в какой степени замена поверхностного слоя сказывается на поглощении излучения, испущенного более глубокими слоями. В коротковолновой области спектра роль поглощения рентгеновских лучей в поверхностном слое резко снижается, поэтому
второе слагаемое в выражении 1. Фрй. Основываясь на экспериментально установленных закономерностях, С. Рид предложил считать эту функцию пропорциональной толщине слоя и обратно пропорциональной длине пробега электронов. Коэффициент пропорциональности был найден им с помощью кривых сррг , полученных Р. Кастеном и Ж. Дескампом 8 . В соответствии с рекомендациями С. ФрФ 14
где Е0 ускоряющее напряжение, а с потенциал возбуждения характеристического излучения обе величины в кВ. На рис. Я. Такое покрытие, как будет показано ниже, можно в известной степени считать стандартным. Обращает на себя внимание резкий рост потерь интенсивности по мере приближения ускоряющего напряжения к потенциалу возбуждения. Действительно, сильное ослабление рентгеновского излучения покрытием, достигавшее десятков процентов, наблюдалось нами экспериментально. Ясно, что проведение измерений в условиях, когда Е0и Ес близки, связано с риском появления значительных погрешностей вследствие обычной в аналитической практике неопределенности ускоряющего напряжения.