Анализ аберрационных свойств оптических систем переменного увеличения

• Автор: Нгуен Ван Луен
• Шифр специальности: 05.11.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2014
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 174 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
Введение
Глава 1. Тонкий компонент. Аберрации изображения, образованного тонким компонентом
1.1. Основные соотношения теории аберраций третьего порядка
и их применение
1.2. Основные параметры бесконечно тонкого компонента
1.3. Определения зависимости монохроматических аберраций третьего порядка в зависимости увеличения изображения
Глава 2. Структура принципиальных схем оптических систем переменного увеличения
2.1. Принципиальные схемы оптических систем переменного увеличения
2.2. Синтез схем оптической системы объектива переменного фокусного расстояния
2.3. Однокомпонентные оптические системы переменного
увеличения
2.4. Двухкомпонентные оптические системы переменного
увеличения
2.5. Трёхкомпонентные оптические системы переменного
увеличения
2.5.1.Трёхкомпонентная система переменного увеличения типа «коллектива»
2.5.2.Трёхкомпонентная оборачивающая система переменного увеличения
Глава 3. Аберрационные свойства тонкого компонента как базового элемента композиции оптической системы

переменного увеличения
3.1. Аберрационный анализ однокомпонентной системы переменного увеличения
3.2. Аберрационный анализ схемы объектива переменного фокусного расстояния с одним компонентом переменного увеличения
3.2.1. Аберрационный анализ схемы двухкомпонентного объектива переменного фокусного расстояния
3.2.2. Аберрационный анализ схемы трёхкомпонентного вариобъектива и трансфокатора
Глава 4. Анализ аберрационных свойств сложной схемы оптической системы переменного увеличения
4.1. Аберрации третьего порядка оптической системы переменного увеличения из п тонких компонентов
4.2. Анализ аберрационных свойств схемы оптической системы переменного увеличения
4.3. Аберрационный анализ оптической схемы вариообъектива и трансфокатора
4.4. Метод анализа аберрационных свойств общей схемы оптической системы переменного увеличения
4.5. Анализ аберрационных свойств схемы двухкомпонентной системы переменного увеличения
4.6. Анализ аберрационных свойств схемы трёхкомпонентной системы переменного увеличения
Глава 5. Анализ аберраций изображения, образованного
реальной оптической системой переменного увеличения
5.1. Определение основных параметров оптических компонентов конечной толщины

5.2. Анализ аберрационных свойств реальной оптической системы переменного увеличения
Заключение
Список литературы
Приложение 1. Пример анализа аберрационных свойств схемы двухкомпонентного объектива переменного фокусного расстояния 145 Приложение 2. Пример анализа аберрационных свойств схемы
трёхкомпонентного вариообъектива
Приложение 3. Пример анализа аберрационных свойств
четырёхкомпонентного вариобъектива
Приложение 4. Пример анализа аберраций изображения, образованного реальной оптической системой переменного увеличения

продольная сферическая аберрация (5g' и дя’), меридиональная кома (К1и), астигматическая разность (- гт) и дисторсия (5у'ш)) определяются выражениями
АС,,,, из которых следует, что они зависят от основных параметры Р , У,, л; и от величин д> , У], ар , которые определяются габаритным расчетом.
Таким образом, зная основные параметры, можно определить коэффициенты и аберраций третьего порядка. Эквивалентные выражения коэффициентов аберраций третьего порядка 5к удобны для анализа аберраций третьего порядка в зависимости от увеличения изображений, образованных компонентами, и следовательно, от увеличения изображения, образованного всей системой из тонких компонентов. Это подход к выражению аберраций третьего порядки в зависимости от увеличений особенно удобен для анализа свойств аберраций изображений, образованных оптическими системами переменного увеличения. Применение полученных соотношений для исследования аберраций изображения, образованного оптическими системами переменного увеличения, будет рассмотрено в следующих разделах диссертации.
(1.29)
спип Н
В результате преобразований получены выражения величин 5к, Дg1'II и