Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность
- Автор:
Дорошевич, Павел Викторович
- Шифр специальности:
05.02.23
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2015
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
109 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методик управления качеством продукции на основе анализа взаимодействия процессов и определения связей между их параметрами | Сторублев, Максим Леонидович | 2009 |
| Обеспечение качества производства нового поколения светотехнических изделий повышенной долговечности (свыше 60000 часов) на основе безэлектродных ВЧ-ламп | Кохонов, Алексей Александрович | 2010 |
| Управление знаниями в системе менеджмента качества организации | Булатицкий, Дмитрий Иванович | 2010 |