Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность
- Автор:
Дорошевич, Павел Викторович
- Шифр специальности:
05.02.23
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2015
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
109 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Типовая модель интегрированной системы менеджмента качества учебно-научно-производственного комплекса подготовки кадрового потенциала для радиоэлектронного комплекса России | Караваева, Елизавета Викторовна | 2012 |
| Квалиметрическое прогнозирование показателей качества рыбных продуктов для детского питания | Игонина, Ирина Николаевна | 2014 |
| Повышение качества соединения компонентов сталемедной катанки на основе регламентации свойств медной ленты и совершенствования технологии плакирования | Щербо, Юрий Александрович | 2005 |