+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Рентгенодифракционные исследования пьезоэлектрических кристаллов при воздействии внешних электрических полей

Рентгенодифракционные исследования пьезоэлектрических кристаллов при воздействии внешних электрических полей
  • Автор:

    Марченков, Никита Владимирович

  • Шифр специальности:

    01.04.18

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2014

  • Место защиты:

    Москва

  • Количество страниц:

    122 с. : ил.

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
"
1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом 
1.2. Рентгенодифракционные методы определения параметров КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ


ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ

Цели и задачи работы

ГЛАВА I. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ

1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом

1.2. Рентгенодифракционные методы определения параметров КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ


1.2.1. Связь относительной вариации параметра кристаллической решетки с изменением брэгговского угла рентгеновского рефлекса

1.2.2. Метод двухкристальной дифрактометрии

1.2.4. Метод трехкристальной дифрактометрии

1.2.3. Метод квазимноговолновой дифракции

1.3. Методы исследования дефектной структуры кристаллов


1.4. Пьезоэлектрический эффект и традиционные (нерентгеновские) методы исследования пьезоэлектрических свойств кристаллов 3
1.4.1. Явление пьезоэффекта
1.4.2. Метод с использованием интерферометра Майкельсона
1.4.3. Емкостной метод измерения обратного пьезоэффекта
1.4.4. Метод измерения индуцированного заряда на электродах образца
1.4.5. Метод резонанса и антирезонанса
1.5. Применение рентгенодифракционных методов для исследования дефектной структуры кристаллов в условиях внешних электрических полей и определения их пьезолектрических характеристик
ГЛАВА II. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЬЕЗОМОДУЛЕЙ КРИСТАЛЛОВ ЛАНТАН-ГАЛЛИЕВОГО ТАНТАЛАТА С ПОМОЩЬЮ РЕНТГЕНОВСКИХ МЕТОДОВ ДВУХ- И ТРЕХКРИСТАЛЬНОЙ

ДИФРАКТОМЕТРИИ И КВАЗИМНОГОВОЛНОВОИ
ДИФРАКЦИИ
2.1. Исследуемые образцы
2.2. Расчет пар компланарных рентгеновских рефлексов, УДОВЛЕТВОРЯЮЩИХ УСЛОВИЯМ МНОГОВОЛНОВОЙ (КВАЗИМ1 юговолновой) ДИФРАКЦИИ
2.3. Методики определения пьезомодулей кристаллов по данным,
ПОЛУЧЕННЫМ С ПОМОЩЬЮ РАЗЛИЧНЫХ РЕНТГЕНОДИФРАКЦИОННЫХ МЕТОДОВ
2.3.1. Двухкристальная дифрактометрия
2.3.2. Трехкристальная дифрактометрия
2.3.3. Квазимноговолновая дифракция
2.4. Определение пьезмодуля dn кристалла лантан-галлиевого
ТАНТАЛАТА МЕТОДАМИ ДВУХ- И ТРЕХКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ И КВАЗИМНОГОВОЛНОВОИ ДИФРАКЦИИ
2.5. Определение локальной вариации пьезмодуля dn кристалла
ЛАНТАН-ГАЛЛИЕВОГО ТАНТАЛАТА МЕТОДАМИ ТРЕХКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ И КВАЗИМНОГОВОЛНОВОЙ ДИФРАКЦИИ
2.6. Выводы
ГЛАВА III. ИССЛЕДОВАНИЕ ОБНАРУЖЕННОГО ЭФФЕКТА ОБРАЗОВАНИЯ НЕФЕРРОИДНЫХ, МЕДЛЕННО
ФОРМИРУЮЩИХСЯ ДОМЕНОВ В КРИСТАЛЛАХ
ПАРАТЕЛЛУРИТА ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ ВНЕШНЕГО ПОСТОЯННОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ С ПОМОЩЬЮ РЕНТГЕНОВСКИХ МЕТОДОВ ДВУХ- И ТРЕХКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
3.1. Исследуемые образцы

3.2. Обнаружение эффекта образования доменов в кристаллах
ПАРАТЕЛЛУРИТА ПРИ НАЛОЖЕНИИ ВНЕШНЕГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ И ЕГО ИССЛЕДОВАНИЯ МЕТОДОМ ДВУХКРИСТАЛЬНОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
3.3. Методика сканирования обратного пространства методом
ТРЕХКРИСТАЛЬНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ
3.3.1. со-сканироваиие
3.3.2. в-26-сканирование
3.3.3. в-2в-сканирование с фиксированной отстройкой по со..
3.4. Исследование доменов в кристаллах парателлурита методом
ТРЕХКРИСТАЛЬНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
3.5. Применение метода рентгеновской топографии для
ИССЛЕДОВАНИЯ ТИПА ДОМЕНОВ И ИХ ВИЗУАЛИЗАЦИИ
3.6. Выводы
ГЛАВА IV. ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕФЕКТНОЙ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ ПАРАТЕЛЛУРИТА РЕНТГЕНОВСКИМИ
МЕТОДАМИ МНОГОВОЛНОВОЙ ДИФРАКЦИИ И СТАНДАРТНОЙ ДВУХВОЛНОВОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
4.1. Исследуемый образец
4.2. Расчет аппаратной функции рентгеновского дифрактометра и ее
УЧЕТ ПРИ МОДЕЛИРОВАНИИ ДВУХКРИСТАЛЬНЫХ КРИВЫХ ДИФРАКЦИОННОГО ОТРАЖЕНИЯ
4.3. Схема эксперимента
4.4. Полученные результаты
4.5. Выводы
ВЫВОДЫ И ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ
ЛИТЕРАТУРА

электрического поля в кристалле, вызванное внешней деформацией) или обратного (измерение деформаций всего кристалла, вызванных внешним электрическим полем) пьезоэффекта. Они подразделяются на статические и динамические. К статическим относятся: емкостной метод измерения обратного пьезоэффекта, метод с использованием интерферометра Майкельсона, метод измерения индуцированного заряда на электродах образца (прямой пьезоэффект). Примером динамического является метод, основанный на измерении резонанса и антирезонанса кристалла-образца.
1.4.2. Метод с использованием интерферометра Майкельсона
Оптические методы исследования пьезоэффекта обладают рядом важных достоинств: позволяют проводить бесконтактные измерения, характеризуются высокой чувствительностью, допускают работу в широкой области частот вибраций и позволяют измерять абсолютные значения смещений объекта. Большое развитие оптические методы исследования получили в связи с распространением лазерной техники, благодаря чему удалось значительно улучшить технические характеристики приборов для измерения малых смещений.
Зеркало
Источник света

Полупрозрачное, зеркало
Образец
Фотоприемник Осциллограф и
Рис. 1.13. Оптическая схема интерферометра Майкельсона

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.175, запросов: 967