Новые рентгенографические методы исследования поверхностных и объемных несовершенств в кристаллах и неоднородностей распределения плотности вещества в аморфных средах

• Автор: Асланян, Вардан Григорьевич
• Шифр специальности: 01.04.18
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Ереван
• Количество страниц: 147 c. : ил

ГЛАВА I. ИССЛЕДОВАНИЕ ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФОРМИРОВАННЫХ
СЛОЕВ ТОЛСТЫХ СОВЕРШЕННЫХ КРИСТАЛЛОВ
1.1. Исследование структуры рентгеновских лауэ-пятен в зависимости от несовершенств приповерхностных слоев толстых совершенных кристаллов
1.1.1. Природа структуры лауэ-пятен, полученных
от идеальных (совершенных) кристаллов
1.1.2. Природа структуры лауэ-пятен, полученных
от кристаллов, содержащих дефекты
1.1.3. Зависимость контраста изображения дефектов от их ориентации относительно отражающих плоскостей
1.1.4. Влияние немонохроматичности первичного пучка на интенсивность изображений дефектов
1.1.5. Экспериментальное исследование расщепления лауэ-пятен в зависимости от поверх -ностных состояний и толщины кристаллов
1.2. Влияние поверхностных дефектов кристаллов на интенсивность рассеяния рентгеновских лучей
1.2.1. Отражение рентгеновских лучей от толстых идеальных кристаллов с отшлифованными поверхностями
1.2.2. Рентгенодифракционное исследование приповерхностных деформированных слоев толстых

совершенных кристаллов
1.3. Рентгенографическое изображение деформированных приповерхностных частей
ГЛАВА 2. РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ОДНОРОДНОСТИ ВЕЩЕСТВ
2.1. Рентгеноинтерферометрическое исследование однородности распределения плотности вещества в образцах с помощью двухблочного интерферометра
2.2. Рентгеноинтерферометрический метод исследования однородности веществ с помощью трехблоч -вых интерферометров
2.2.1. Трехблочный интерферометр для исследования однородности распределения плотности вещества в образцах
2.2.2. Исследование однородности распределения вещества с помощью маятниковых полос, полученных в трехблочном интерферометре
2.3. Способ выявления интерференционного происхождения распределения интенсивности в рентгеновских пучках
2.3.1. Экспериментальное исследование происхождения распределения интенсивностей в рентгеновских лучках
ГЛАВА 3. ВОЗНИКНОВЕНИЕ И НАБЛЮДЕНИЕ МУАРОВОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ
ИНТЕНСИВНОСТИ РЕНТГЕНОВСКИХ ВОЛН В ДВУХКРИСТАЛЬНЫХ
ИНТЕРФЕРОМЕТРАХ
3.1. Возникновение рентгеновских муаровых картин при симметричных отражениях в двухкристальных интерферометрах

3.1.1. Возникновение муарового распределения интенсивности рентгеновских плоских волн во втором кристалле двухкристального интерферометра
3.1.2. Наблюдение муаровых картин
3.1.3. Наблюдение муаровых картин, вызванных поворотами атомных плоскостей вокруг оси, перпендикулярной к плоскости падения
3.1.4. Обнаружение поворотов атомных плоскостей вокруг вектора обратной решетки
3.2. Возникновение рентгеновских муаровых картин при асимметричных отражениях в двухкристалъ-ных интерферометрах
3.2.1. Возникновение муаровых картин при асимметричных отражениях в двухблочных интерферометрах с идеальной геометрией
3.2.2. Случай асимметричного отражения, когда межплоскостные расстояния первого и второго кристалла отличаются друг от друга
3.2.3. Случаи, когда плоскости второго кристалла повернуты относительно плоскостей первого кристалла
ГЛАВА 4. ВОПРОСЫ ЭКСТИНКЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ
4.1. Различные трактовки экстинкции рентгеновских лучей
4.2. Новая трактовка экстинкции. Характер (природа) влияния экстинкции на интенсивность дифрагированных рентгеновских волн

Рис.1.14.Рентгенографическое изображение приповерхностного деформированного слоя.
Ц У/у

11 г
Мг, №{

Рис. 1.15.