Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBV и контактов металла/AIIIBV методом атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Новиков, Вадим Александрович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Томск
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Контактные явления в тонкопленочных структурах на основе аморфных As2S3 и Sb2S3 | Симашкевич, Андрей Алексеевич | 1984 |
| Спин-зависимые магнитооптические и фотогальванические явления в гетероструктурах на основе InAs | Мухин, Михаил Сергеевич | 2012 |
| Исследование нанокомпозитных металлополимерных слоев, синтезированных высокодозной имплантацией ионов 3d-элементов | Хабибуллина, Наиля Рашидовна | 2005 |