Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBV и контактов металла/AIIIBV методом атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Новиков, Вадим Александрович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Томск
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Формирование многослойных гетерофазных структур в имплантированном ионами кремнии | Попов, Владимир Павлович | 2005 |
| Электронная микроскопия полупроводников с учетом реальных закономерностей освещения образца и рассеяния электронов | Боргардт, Николай Иванович | 1999 |
| Сенсибилизация кристаллов силленитов для создания устройств преобразования сигналов | Чаплыгин, Алексей Николаевич | 2007 |