Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu
- Автор:
Сафонов, Александр Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Казань
- Количество страниц:
118 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Светодиоды и фотоприемники для средней ИК-области спектра на основе изопериодных гетероструктур II типа в системе GaSb-InAs | Стоянов Николай Деев | 2005 |
| Особенности взаимодействия мощных ультракоротких лазерных импульсов с экситонами в квантовых нитях и точках | Лясковский, Владимир Леонидович | 2007 |
| Влияние структурных особенностей на оптические и электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических пленок | Образцов, Александр Николаевич | 2000 |