Спектроскопия глубоких уровней в полупроводниковых структурах
- Автор:
Бормонтов, Александр Евгеньевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
149 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Изучение обусловленных кислородом рекомбинационных центров в термообработанном кремнии | Боримскмй, Виталий Васильевич | 1985 |
| Анализ самоорганизованных наноразмерных структур в имплантированном кремнии | Павлюченко, Максим Николаевич | 2002 |
| Разработка и исследование моделей оценки производительности коммуникационных протоколов для каналов с помехами | Талипов Нияз Хатимович | 2016 |