Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
- Автор:
Курипятник, Андрей Валериевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
136 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Управление концентрацией свободных носителей заряда в кремниевой наноструктуре | Воронцов, Александр Сергеевич | 2008 |
| Температурная зависимость теплоемкости твердых растворов системы арсенид галлия - фосфид индия - арсенид индия в области 5 - 300 К. | Новиков, Владимир Васильевич | 1984 |
| Электрофизические и тензоэлектрические свойства InSb и GaSb, облученных электронами, протонами и нейтронами | Каменская, Ирина Валентиновна | 2007 |