Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
- Автор:
Курипятник, Андрей Валериевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
136 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические и спиновые явления в полупроводниковых коллоидных нанокристаллах | Родина, Анна Валерьевна | 2016 |
| Особенности поведения узкозонных полупроводников во внешних полях | Зайко, Юрий Николаевич | 1985 |
| Рост и дефектообразование кристаллов полупроводникового карбида кремния, выращенного по методу ЛЭТИ | Лебедев, Андрей Олегович | 2013 |