Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
- Автор:
Курипятник, Андрей Валериевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
136 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Поляризационные исследования рекомбинационного излучения монокристаллов тройных полупроводников с анизотропной структурой | Паримбеков, Заитхан Анарбекович | 1984 |
| Теоретическое исследование оптических свойств полупроводниковых лазерных структур на основе нитридов металлов III группы | Бугров, Владислав Евгеньевич | 1998 |
| Свойства краевых и поверхностных состояний в дираковских материалах | Еналдиев, Владимир Викторович | 2017 |