Морфологические свойства нано- и микроструктур, сформированных на подложках кристаллического и пористого кремния
- Автор:
Горлачев, Егор Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Ярославль
- Количество страниц:
121 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Брэгговское отражение высококонтрастных фотонных кристаллов на основе композитов опал-полупроводник (GaP, GaN, GaPN) | Гаджиев, Гаджи Магомедрасулович | 2007 |
| Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур | Уткин, Алексей Борисович | 1999 |
| Кристаллическая структура и оптоэлектронные свойства кремниевых диодов со встроенными нанокристаллами полупроводниковой фазы дисилицида железа | Шевлягин, Александр Владимирович | 2019 |