Исследование электрофизических и оптических характеристик кремниевых МОП структур с туннельно-тонким диэлектриком
- Автор:
Векслер, Михаил Исаакович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
230 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Низкотемпературная туннельная спектроскопия и сканирующая туннельная микроскопия халькогенидов свинца | Рыков, Сергей Александрович | 1999 |
| Миграция электронных возбуждений и формирование спектров люминесценции в пространственно-неоднородных полупроводниковых структурах A3B5 | Криволапчук, Владимир Васильевич | 2009 |
| Кинетика атомных преобразований кристаллической поверхности при эпитаксиальном росте и сопутствующих процессах (моделирование) | Яновицкая, Зоя Шмеровна | 2003 |