Исследование состава самоорганизованных нанокластеров GexSi1-x/Si методом сканирующей оже-микроскопии
- Автор:
Николичев, Дмитрий Евгеньевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
142 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Поверхностные явления и наноразмерные эффекты при кристаллизации в гетерофазных системах | Каневский, Владимир Михайлович | 2013 |
| Многопереходные солнечные элементы, содержащие субэлемент на основе германия | Калюжный, Николай Александрович | 2011 |
| Исследование неравновесных электронных процессов в германии с примесями халькогенов | Радчук, Наталия Борисовна | 2005 |