Исследование состава самоорганизованных нанокластеров GexSi1-x/Si методом сканирующей оже-микроскопии
- Автор:
Николичев, Дмитрий Евгеньевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
142 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование неупругого рассеяния быстрых электронов на внутренних оболочках атомов гетерокомпозиций | Зыков, Алексей Владимирович | 2006 |
| Неравновесные распределения и дальнее инфракрасное излучение горячих носителей заряда в одноосно деформированном германии и в электронно-дырочной плазме кремния | Мусаев, Ахмед Магомедович | 2000 |
| Высокочастотный транспорт в квантово-размерных системах на основе германия и кремния : бесконтактные методы исследования | Малыш, Виталий Александрович | 2015 |