Исследование состава самоорганизованных нанокластеров GexSi1-x/Si методом сканирующей оже-микроскопии
- Автор:
Николичев, Дмитрий Евгеньевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
142 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование состава самоорганизованных нанокластеров GexSi1-x/Si методом сканирующей оже-микроскопии», автор — Николичев, Дмитрий Евгеньевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Нижний Новгород в 2009 году. Объем работы: 142 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004313788. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование процессов эпитаксиального роста четверных твердых растворов InGaAsP в области несмешиваемости | Мурашова, Алена Владимировна | 2002 |
| Молекулярно-пучковая эпитаксия с плазменной активацией азота слоев и гетероструктур в системе (Al,Ga)N с высоким содержанием Al для ультрафиолетовой оптоэлектроники | Мизеров, Андрей Михайлович | 2011 |
| Исследование скоплений компенсирующих центров в полупроводниках и их взаимодействия с точечными собственными дефектами | Рахимов, Одил | 1984 |