Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии
- Автор:
Росола, Иван Иосифович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Ужгород
- Количество страниц:
216 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Периодические оптические неоднородности в полупроводниковых волноводных гетероструктурах | Смирницкий, Владимир Борисович | 1984 |
| Излучательная комбинация в арсениде галлия, легированном изовалентными примесями In, Sb, Bi, и в неоднородных твердых растворах на его основе | Чалдышев, Владимир Викторович | 1984 |
| Эффекты структурной неустойчивости узкощелевых полупроводников Pb1-xMexS и Pb1-xMexTe (Me - Mn, Gd) с неоднородным распределением марганца и гадолиния | Зайнуллин Радик Рустэмович | 2015 |