Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии
- Автор:
Росола, Иван Иосифович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Ужгород
- Количество страниц:
216 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование поперечного транспорта электронов в многобарьерных структурах с резонансным туннелированием носителей, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии | Евстигнеев, Сергей Владимирович | 1999 |
| Моделирование низкоинтенсивного радиационного воздействия на зарядовые свойства кремниевых МОП-структур | Бондаренко, Евгений Владимирович | 2010 |
| Исследование зонной структуры легированного антимонида галлия | Чайкина, Елена Ивановна | 1984 |