Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии

• Автор: Росола, Иван Иосифович
• Шифр специальности: 01.04.10
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Ужгород
• Количество страниц: 216 c. : ил

I ~Z л . : - гх СССР ~ X, XI

I ОШ Ж г, ■•■,, a, NS

'Gtf-JtMMf
. ...і ;:і
П/,,

ВВЕДЕНИЕ'
Глава I. ОСОБЕННОСТИ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИХ СВОЙСТВ И ЭНЕРГЕТИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА СЛОЖНЫХ СТЕКЛООБРАЗНЫХ СОЕДИНЕНИЙ

1.1. Физико-химические свойства стекол системы Ue-As-S-J

1.2. Оптические свойства сложных некристаллических соединений

1.3. Анализ дифракционных исследований структуры стеклообразных веществ

1.4. Методика и техника эксперимента колебательных, спектрофотометрических и рефрактометрических исследований в широком температурном интервале
Глава II. КОЛЕБАТЕЛЬНЫЕ СПЕКТРЫ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ As-s-J
2.1. Особенности колебательных спектров стеклообразных материалов
2.2. Приведенная плотность колебательных состояний
и особенности структуры стекол системы As-S
2.3. Инфракрасные спектры и спектры деполяризации комбинационного рассеяния света стекол системы As-S-J
2.4. Постоянная связи и зона структурной корреляции стекол системы As-s
Глава III. ИК и КРС СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ХАЛЬ-КОГЕНИДНЫХ СТЕКОЛ СЛОЖНЫХ СИСТЕМ
3.1. Влияние режимов синтеза на спектры комбинацион-

ного рассеяния света стекол As2s3 и AsSJ
3.2. Колебательные спектры стекол разреза
(ASgS^) j ( GcSg) -| 2" •••*••••••••••••«••••••• 9J
3.3. Спектры комбинационного рассеяния света в стеклах системы AsSJ-GeSg
3.4. KP-спектроскопические исследования стекол системы Hg-As-S-J
Глава IV. СПЕКТРОФОТОМЕГРИЧЕСКИЕ И РЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКИЕ
ИССЛЕДОВАНИЯ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ Ge-As-S-J
4.1. Дисперсия показателя преломления и коэффициент линейного расширения стекол системы AS-S
4.2. Спектрофотометрические и рефрактометрические исследования стекол разреза (As2s3)x(AsJ.j)1_I
4.3. Рефрактометрические исследования стеклообразных полупроводников системы Ge-As(Sb)-S
4.4. Показатель преломления и край поглощения стекол разреза (AsSJ)x
Глава V. РЕКОМЕНДАЦИИ ПО ПРАКТИЧЕСКОМУ ПРИМЕНЕНИЮ
ХАЛЬКОГЕНИДНЫХ СТЕКОЛ СЛОЖНОГО СОСТАВА
5.1. Тепловое расширение стекол системы Ge-As-S-J
5.2. Сопоставительный анализ рефрактометрических исследований стекол системы Ge-As-S-J
5.3. Возможности практического использования халь-когенидных стекол сложного состава, на основе
их структурных исследований
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ
ЛИТЕРАТУРА

Глава II. КОЛЕБАТЕЛЬНЫЕ СПЕКТРЫ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ Ав-Б^
Физико-химические свойства твердых тел определяются их структурой. Поэтому целью многих исследований некристаллических твердых тел является изучение их структуры посредством дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов, которые непосредственно дают структурные параметры (например, координационные числа и длины связей). Информация о динамических взаимодействиях между атомами (например, силовые постоянные, эффектривные заряды, поляризуемость связей), а также углы связей и симметрии локальных структур могут быть получены с помощью колебательной спектроскопии [153,161,175,176].
2.1 Особенности колебательных спектров стеклообразных
материалов
В кристаллических твердых телах активность полос в ИК и КРС спектрах определяется теоретико-групповым анализом правил отбора и только оптические фононы в центре зоны Бриллюэна вызывают появление спектров первого порядка. С другой стороны, в аморфных твердых телах все виды колебаний могут быть активными в ИК и КРС спектрах, что обусловлено нарушением правил отбора, вызванного отсутствием дальнего порядка.
Один из методов рассмотрения нарушений правил отбора при рассеянии света фононами основан на введении корреляционной длины Д , которая характеризует пространственную протяженность