Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии
- Автор:
Росола, Иван Иосифович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Ужгород
- Количество страниц:
216 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии», автор — Росола, Иван Иосифович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Ужгород в 1984 году. Объем работы: 216 c. : ил. Внутренний код товара: 01003432980. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Неравновесные процессы в диэлектриках и полупроводниках при импульсном электронном возбуждении | Штанько, Виктор Федорович | 2000 |
| Атомные реконструкции и электронные свойства поверхностей полупроводников A3B5 с адсорбатами | Терещенко, Олег Евгеньевич | 2013 |
| Резонансное и брэгговское рассеяние быстрых электронов от совершенных поверхностей InAs и GaAs в дифракции на отражение | Мансуров, Владимир Геннадьевич | 2000 |