Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии
- Автор:
Росола, Иван Иосифович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Ужгород
- Количество страниц:
216 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии», автор — Росола, Иван Иосифович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Ужгород в 1984 году. Объем работы: 216 c. : ил. Внутренний код товара: 01003432980. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Компьютерное моделирование роста наноструктур: нанокластеров и нанокристаллов | Лубов, Максим Николаевич | 2010 |
| Моделирование дисперсионного переноса в полупроводниках на основе уравнений с производными дробного порядка | Сибатов, Ренат Тимергалиевич | 2007 |
| Исследование зарядопереноса в структурах металл-анодный окисел металла-полупроводник | Лалэко, Владислав Анатольевич | 1982 |