Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
- Автор:
Дунаевский, Михаил Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
163 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Формирование и свойства границ раздела фоточувствительных структур на основе пленок халькогенидов свинца | Бондоков, Роберт Цветанов | 1999 |
| Свойства горячих электронов в квантовых ямах и сверхрешетках GaAs/Al x Ga1-x As | Акимов, Илья Андреевич | 2000 |
| Электронные состояния на поверхности GaAs с адсорбированными слоями цезия и сурьмы | Журавлев, Андрей Григорьевич | 2010 |