Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
- Автор:
Дунаевский, Михаил Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
163 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография», автор — Дунаевский, Михаил Сергеевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2007 году. Объем работы: 163 с. : ил.. Внутренний код товара: 01003349270. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метод расчета и моделирования функциональных схем | Шигапов, Зинатулла Гамирович | 1984 |
| Влияние отжига, электронного облучения и упругой деформации на проводимость слоев пористого кремния с различной морфологией | Брагин, Алексей Николаевич | 2003 |
| Магнетотранспортные явления в гетероструктурах GaAs/AlAs с латеральной периодической модуляцией | Стрыгин, Иван Сергеевич | 2019 |