Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
- Автор:
Дунаевский, Михаил Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
163 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методов анализа влияния декогерентизации на качество квантовых преобразований, алгоритмов и измерений | Бантыш, Борис Игоревич | 2018 |
| Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда | Сошников, Александр Игоревич | 2011 |
| Фотоинжекция водорода в твердых телах | Гаврилюк, Александр Иванович | 2002 |