Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
- Автор:
Дунаевский, Михаил Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
163 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| К теории связанных состояний дырок в алмазоподобных и гексагональных полупроводниках | Малышев, Андрей Викторович | 1999 |
| Реальная структура мозаичных кристаллов в системе Ge-Si и условия ее возникновения | Борисова, Дарья Александровна | 2013 |
| Электродинамика слоистых полупроводниковых структур для квантовых каскадных лазеров | Богданов, Андрей Андреевич | 2012 |