Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
- Автор:
Дунаевский, Михаил Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
163 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Вторичное свечение в пленках тетраэдрического углерода при лазерном возбуждении | Зарецкий, Сергей Николаевич | 1998 |
| Влияние электрического поля на процессы формирования низкочастотного шума в барьерах Шоттки | Кострюков, Сергей Анатольевич | 2007 |
| Особенности магнитной восприимчивости чистых и легированных узкощелевых полупроводников Pb1-x Snx Te, PbSe | Бродовой, Александр Владимирович | 1984 |