Оптические и электрооптические исследования последовательных фазовых переходов в кристалах типа ABCl3 и A2BCl4

• Автор: Мельникова, Светлана Владимировна
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Красноярск
• Количество страниц: 136 c. : ил

ГЛАВА I. ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ И ИЗМЕНЕНИЕ ПРИ СТРУКТУРНЫХ ФАЗОВЫХ ПЕРЕХОДАХ (обзор)
§ I. Основные понятия кристаллооптики
§ 2. Поведение'двупреломления при структурных фазовых переходах различных типов
§ 3. Исследование температурного поведения параметра перехода с помощью двупреломления
§ 4. Поляризационно-оптические исследования процессов двойникования кристаллов
Выводы
ГЛАВА II. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ И АППАРАТУРА ДЛЯ
ИЗМЕРЕНИЯ СПОНТАННЫХ И ИНДУЦИРОВАННЫХ ИЗМЕНЕНИЙ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ КРИСТАЛЛОВ
§ I. Измерение двупреломления, способы увеличения
чувствительности
§ 2. Измерение коэффициентов квадратичного электрооптического эффекта
§ 3. Наблюдение двойниковой структуры
Выводы
ГЛАВА III. ОПТИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНЫХ ФАЗОВЫХ
ПЕРЕХОДОВ В КРИСТАЛЛАХ
§ I. Краткая характеристика кристаллов семейства
ЙВс £3
§ 2. Исследование оптических свойств кристаллов
семейства йВС. В3

§ 3. Термодинамическое описание последовательности
фазовых переходов -г &г -> Є-а в
кристаллах Л В С
§ 4. Обнаружение и исследование структурного фазового перехода в КЬНпВ13
Выводы
ГЛАВА ІУ. ИССЛЕДОВАНИЕ ФАЗОВЫХ ПЕРЕХОДОВ ТИПА
ИСХОДНАЯ -НЕЕ ОРАЗМЕРНАЯ-С ОРАЗМЕРНАЯ ФАЗЫ
§ I. Двупреломление и электрооптические свойства ЯЬг аіп с 4 в области переходов исходная-
-несоразмерная-соразмерная фазы
§ 2. Исследование последовательности фазовых пере- ■ ходов в тетрахлорцинкате аммония. Сходство и различие Я6г3 п в Л, и (/УЯ^)г2п С1Ч
Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

Изучение оптических свойств кристаллов всегда являлось одним из наиболее информативных методов в кристаллографии. До открытия рентгеновских лучей и появления методов изучения структуры, оптические свойства кристаллов, такие как показатели преломления ( П- I ) , двупреломления ( А /2 у' ), дихроизм и другие, многие десятилетия служили, наряду с изучением габитуса, одним из самых надежных способов идентификации кристаллических веществ. Оптические методы сохраняют свое первоначальное значение главным образом в науках о Земле для изучения состава горных пород.
В последнее десятилетие измерение двупреломления и других оптических характеристик как функции температуры и иных внешних воздействий приобрело новый смысл в исследованиях структурных и магнитных фазовых переходов. Интерес к этому методу ощутимо возрос после появления когерентных источников света, хорошей регистрирующей аппаратуры (узкополосные фильтры-усилители, фотоумножители) , а также в связи с разработкой новых, более чувствительных методов измерения двупреломления.
Изменение симметрии кристаллов при структурных фазовых переходах обычно сопровождается перестройками в электронной подсистеме. Поэтому измерение показателей преломления и двупреломления является ценным инструментом изучения фазовых переходов. Этот метод дает быструю и при том высокочувствительную технику наблюдения изменения оптических свойств, связанных с искажениями структуры. Простое поляризационно-оптическое наблюдение иногда может дать информацию большую, чем рентгеновские исследования. Особенно полезен этот метод при малых искажениях структуры и полидоменном состоянии образца, что затрудняет определение

вательно, и пропускание системы : поляризатор П - кристалл
К - фазовая пластинка / - анализатор Л с частотой поля 00 (ЛЭОЭ) и удвоенной 2. и> (КЭОЭ). Переменный сигнал принимается фотоэлектронным усилителем ФЭУ-79, усиливается узкополосным фильтром-усилителем У2-6 и измеряется синхродетектором СД-І. Для измерения КЭОЭ необходимо, чтобы система усилителей была настроена на частоту 2 и) . Для этой цели служит специально изготовленный удвоитель частоты (УЧ), преобразующий частоту I КГц в 2 КГц. С его помощью производится установка частоты 2.ці) , калибровка системы, синхронизация сигнала в процессе измерения. Принципиальная схема удвоителя частоты приведена на рис.11-,
Во врегля эксперимента элементы оптической системы должны находиться в определенном положении. Поляризатор и анализатор скрещены, кристалл К и пластинка у} установлены таким образом, чтобы оси индикатрисы (в случае двупреломляющего кристалла пластинка управляемой разности фаз) располагались
под 45° к положениям погасания поляризаторов.
Величина КЭОЭ при распространении света по /100] я приложении электрического поля по [001] рассчитывается по формуле :
з , ъ , Лг с1*А Мс. <£
П3 Чь = и3-£7ТЯ 22чР сік. 5 (24)
где М*. и оі к. - калибровочные напряжение и сигнал на СД-І,
Я - І Мом, У7і - показатели преломления, ОС - напряжение на кристалле, <Л - измерявши сигнал СД-І, £ и СІ - размеры образца в направлении распространения света и поля.
С помощью описанной выше установки измеряются электрооптичес-