Рентгеновская диагностика в изучении особенностей формирования полупроводниковых наноструктур
- Автор:
Субботин, Илья Александрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
136 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Магнитоанизотропные свойства пленочных систем copd, cocr и copt, полученных с помощью твердофазного синтеза | Рыбакова Александра Николаевна | 2017 |
| Молекулярно-лучевая эпитаксия гетероструктур CdxHg1-xTe на подложках GaAs для инфракрасных фотоприёмников | Михайлов, Николай Николаевич | 2005 |
| Низко- и инфранизкочастотные диэлектрические свойства сегнетоэлектрических твердых растворов типа xPZN-(1-x)PSN и (1-x)Pb(Ti,Zr)O3-xBi(Sr,Ti)O3 | Алпатов, Алексей Викторович | 2006 |