Рентгеновская диагностика в изучении особенностей формирования полупроводниковых наноструктур
- Автор:
Субботин, Илья Александрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
136 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Динамика накопления водорода и дефектов в титане и нержавеющей стали при электролитическом насыщении водородом | Лидер, Андрей Маркович | 2002 |
| Создание и исследование оптических волноводов с регулярной доменной структурой в ниобате лития | Нерадовский Максим Михайлович | 2016 |
| Фотовольтаический, фоторефрактивный и фотогистерезисный эффекты в сегнетоэлектриках и пьезоэлектриках | Батиров, Тажудин Магомедович | 2003 |