Исследование параметров локальных центров в полупропроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чубаренко, Владимир Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
168 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Пробой коаксиального диода поперек магнитного поля и методы увеличения длительности импульса тока электронного пучка | Ким, Александр Андреевич | 1983 |
| Модификация дифференциальных спектров вторично-ионной и ионно-электронной эмиссии и физико-химические свойства твердого тела | Филимонов, Алексей Владимирович | 2000 |
| Плазменный источник электронов для генерации импульсных пучков в форвакуумной области давлений | Медовник, Александр Владимирович | 2010 |