Исследование параметров локальных центров в полупропроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чубаренко, Владимир Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
168 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Наносенсоры на основе полевых и одноэлектронных транзисторов | Амитонов, Сергей Владимирович | 2013 |
| Теоретическое исследование нелинейных режимов работы электронно-пучковых систем типа "О" | Холодов, Владимир Иванович | 1985 |
| Энергетический спектр электронов и особенности оптического поглощения одно- и многослойных структур на основе графена и нитрида бора, допированных атомами щелочных металлов | Та Динь Хиен | 2014 |