Исследование параметров локальных центров в полупропроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чубаренко, Владимир Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
168 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диэлектрические свойства неоднородных микро- и наноразмерных сегнетоэлектрических систем | Стукова, Елена Владимировна | 2014 |
| Электронно-энергетические и оптические характеристики гексагонального нитрида галлия с дефектами замещения | Новиков, Сергей Игоревич | 2013 |
| Численное моделирование упругопластической деформации и разрушения неоднородных твердых тел под действием механических нагрузок | Стефанов, Юрий Павлович | 1999 |