Исследование параметров локальных центров в полупропроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чубаренко, Владимир Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
168 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние плазменных колебаний на электронный транспорт в слоистых сверхпроводниках | Ремизов, Сергей Валерьевич | 2002 |
| Лазерная спектроскопия когерентного антистоксова рассеяния света молекулярных газов | Смирнов, В.В. | 1984 |
| Особенности распыления лантанидов при магнитном фазовом переходе | Карпова, Елена Евгеньевна | 1984 |