Исследование параметров локальных центров в полупропроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чубаренко, Владимир Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
168 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Пространственно-временной резонанс и взаимодействие электромагнитных и акустических волн в тонких пленках | Харланов, Александр Владимирович | 2019 |
| Поверхностные процессы и соединения при взаимодействии атомов неметаллов с тугоплавкими металлами | Галль, Николай Ростиславович | 2001 |
| Применение метода совпадений для исследования эмиссии вторичных частиц при ионной бомбардировке твердого тела | Дубский, Геннадий Алексеевич | 1984 |