Исследование параметров локальных центров в полупропроводниковых структурах методами растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чубаренко, Владимир Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
168 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Эмиссионные свойства углеродных волокон и катодолюминесцентные источники света на их основе | Лешуков, Михаил Юрьевич | 2007 |
| Перенос электронов средних энергий в веществе и свойства нелинейного интеграла столкновений уравнения Больцмана | Бакалейников, Леонид Александрович | 2013 |
| Особенности распыления лантанидов при магнитном фазовом переходе | Карпова, Елена Евгеньевна | 1984 |