Исследование природы диэлектрических и электрооптических свойств кристаллов и Тi-диффузного микроволновода света

• Автор: Фелинский, Георгий Станиславович
• Шифр специальности: 01.04.03
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Киев
• Количество страниц: 199 c. : ил

ГЛАВА I. СПЕКТРОСКОПИЯ KP ПРИ ИССЛЕДОВАНИИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
И 30 СВОЙСТВ НЕЦЕНТРОСИММЕТРИЧНЫХ КРИСТАЛЛОВ . . II
1.1. Длинноволновые фотоны в многоатомных нецент-

росимметричных" кристаллах

1.2. Связь линейного электрооптического эффекта с нелинейной поляризуемостью
1.3. Теория процессов рассеяния и особенности KP
в электрооптических кристаллах
I.A. Оптические микроволноводы света в нецентросимметричных кристаллах
1.5. Применение диффузных микроволноводов в ниоба-те лития для модуляторов и дефлекторов света
Глава II. ИССЛЕДОВАНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ НЕЦЕНТРОСИММЕТРИЧНЫХ КРИСТАЛЛОВ МЕТОДОМ СПЕКТРОСКОПИИ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ
2.1. Исследование угловой дисперсии анизотропных фононов в ниобате лития методом KP спектроскопии /118, 125
2.2. Диэлектрические свойства кристаллов и затухание полярных фононов /119
2.3. Дисперсионный анализ диэлектрической проницаемости по спектрам KP /120
2.4. Дисперсионный анализ (ДА) диэлектрической проницаемости в иодате лития

2.5. ДА диэлектрической проницаемости в танталате лития
2.6. ДА диэлектрической проницаемости в ниобате лития
Глава III. ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ И
ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА НЕЦЕНТРОСИММЕТРИЧНЫХ
КРИСТАЛЛОВ МЕТОДОМ КР
3.1. Электронно-решеточный вклад в ЛЭОЭ и динамика кристаллической решетки /121, ,126
3.2. Электронно-ионные вклады в ЛЭОЭ кристалла иодата лития
3.3. Электронно-ионные вклады в ЛЭОЭ танталата и ниобата лития
3.4. Внутрикристаллическое поле в анизотропных диэлектриках/102
3.5. Измерение чисто-электронного вклада в ЛЭОЭ
ГЛАВА IУ.КР-ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ,
ОПТИЧЕСКИХ И ЭО СВОЙСТВ Т1-ДИФФУЗНЫХ МИКРОВОЛНОВОДОВ В НИОБАТЕ ЛИТИЯ
4.1. Методика и особенности изготовления: Т1-диффузных слоев в ниобате лития
4.2. Измерение оптических характеристик микроволно-водов в Т1-диффузных слоях ниобата лития
4.3. Исследование спектров КР диффузных микроволноводов в ниобате лития /108
4.4. Определение решеточного вклада в изменение показателя преломления оптического микроволново-

да в Li N Ь03 :Т1
4.5. Влияние Ti-диффузного микроволновода на электронно-решеточный вклад в ЛЭОЭ
4.6. Дисперсия ЭО коэффициентов и предел повышения широкополосности интегральных устройств
4.7. Расчет распределения электрического поля компланарных систем электродов /124
4.8. Электроемкость электродных систем волноводных модуляторов и дефлекторов света /115/ •
4.9. Некоторые вопросы применения диффузных микро-волноводов света в устройствах интегральной оптики
ВЫВОДЫ
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

чай интересен тем, что кривые фононной угловой дисперсии для

0 <д < 90 (где б , как и ранее, угол между к и осью 2 ) могут иметь смешанный тип симметрии и проявляться с различными поляризациями. В частном случае ниобата лития соотношение (39) может быть переписано в виде:
19с 6*° п П
* ■"!и» -«•] а>
где индексы т. и п относятся к соответствующим типам колебаний. Частоты продольных и поперечных колебаний непосредственно измеряются из спектрв КР и последняя формула была использована для теоретического расчета кривых угловой дисперсии СО = СО ( 9 ) анизотропных фононов.
Угловая дисперсия измерялась экспериментально с помощью двух образцов ниобата лития, имеющих вид параллелепипеда, грани которых были ориентированы вдоль главных осей и под углом 45° к ним, соответственно. Эти два образца позволяли перекрыть широкий диапазон углов в центре и по краям кривых угловой дисперсии. При обработке экспериментальных результатов был проведен учет двулучепреломления кристалла, дисперсии показателей преломления, а также зависимости волновых векторов стоксовой волны от частоты. Все необходимые расчеты были выполнены на ЭВМ ЕС-1020.
На рис.5 представлены кривые угловой дисперсии для двух характерных ветвей анизотропных фононов. Сплошной линией проведена теоретическая кривая, а треугольниками нанесены точки, измеряемые экспериментально. Точность измерения по частоте составила ± I см"1 во всем исследуемом диапазоне (50-1000 см“-*-), а по углу ±40; - в пределах (0- 90°). Как видим, имеется хорошее совпадение экспериментальных данных с теоретическими, рассчитан-