Исследование границы раздела и приповерхностных слоев полупроводника в системах электролит-полупроводник с помощью емкостных методов
- Автор:
Рудинский, Михаил Эдуардович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
144 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование физических процессов в гетероструктурах на основе нитрида галлия с квантовыми ямами | Солонин, Александр Павлович | 2009 |
| Создание и исследование спонтанных источников света для средней ИК-области спектра на основе узкозонных полупроводников А3В5 | Калинина, Карина Вадимовна | 2012 |
| Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеноструктурными методами | Филатов, Павел Александрович | 2008 |