Исследование границы раздела и приповерхностных слоев полупроводника в системах электролит-полупроводник с помощью емкостных методов
- Автор:
Рудинский, Михаил Эдуардович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
144 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование радиационно-термических процессов формирования ионно-легированных слоёв n-GaAs | Ардышев, Михаил Вячеславович | 2000 |
| Оптические свойства полупроводников со структурой типа TlSe | Эфендиева, Ирада Кафар кызы | 1985 |
| Метод обработки результатов измерений температуры в процессах высокотемпературного синтеза | Смирнов, Евгений Валерьевич | 2010 |