Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии
- Автор:
Сысоев, Евгений Владимирович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
136 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотодинамические процессы в кристаллах LiCaAlF6,LiYxLu1-xF4 и SrAlF5, активированных ионами Ce3+ | Павлов, Виталий Вячеславович | 2015 |
| Микроскопическая теория частотной дисперсии сверхтонких нелинейных активированных диэлектрических пленок при взаимодействии с интенсивными квазирезонансными световыми полями | Моисеев, Сергей Геннадьевич | 1999 |
| Разработка способов исследования слоистых структур монолитных интегральных приборов СВЧ на основе спектроскопии и эллипсометрии | Крючков, Юрий Иванович | 2001 |