Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии
- Автор:
Сысоев, Евгений Владимирович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
136 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Расчет и моделирование высокоразрешающих градиентных и дифракционно-градиентных объективов | Ежов, Евгений Григорьевич | 2001 |
| Исследование и применение многолучевых отражательных интерферометров с "необращенной" аппаратной функцией | Терентьев, Вадим Станиславович | 2008 |
| Теоретическое исследование электронных состояний атомов и атомных конденсатов методом Хартри-Фока с локальными обменно-корреляционными потенциалами | Нявро, Александр Владиславович | 2007 |