Физико-технологические основы управления процессами дефектообразования в кремниевых полупроводниковых структурах
- Автор:
Енишерлова-Вельяшева, Кира Львовна
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1998
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
407 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Получение и исследование высокоиндукционных магнитодиэлектрических материалов и радиокомпонентов на их основе | Васильева, Ольга Вячеславовна | 2001 |
| Термомеханическая обработка материалов проходной оптики лазеров среднего ИК - диапазона | Петраков, Валерий Сергеевич | 2006 |
| Процессы электрохимического формирования твердотельных наноструктур | Гаврилов, Сергей Александрович | 2001 |