Физико-технологические основы управления процессами дефектообразования в кремниевых полупроводниковых структурах
- Автор:
Енишерлова-Вельяшева, Кира Львовна
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1998
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
407 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование и оптимизация параметров технологических процессов химического осаждения тонких пленок из газовой фазы в производстве приборов электронной техники | Каратунов, Юрий Владимирович | 2003 |
| Конструирование и технология производства полупроводниковых приборов миллиметрового диапазона и устройств на их основе | Попов, Владимир Васильевич | 2009 |
| Исследование свойств и закономерностей формирования массивов металлических наночастиц одно- и двухкомпонентных систем методом вакуум-термического испарения | Савицкий, Андрей Иванович | 2018 |