Исследование влияния примесей Bi, In и Ti на свойства материалов фазовой памяти на основе системы Ge-Sb-Te
- Автор:
Бабич, Алексей Вальтерович
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
197
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Синтез и исследование стекловидных диэлектрических материалов и пленок на их основе, полученных золь-гель методом | Дворников, Сергей Александрович | 2001 |
| Вакуумно-плазменное травление тонких сегнетоэлектрических пленок цирконата-титаната свинца и структур на их основе | Абдуллаев, Даниил Анатольевич | 2019 |
| Получение и дилатометрическое исследование халькогенидных полупроводниковых стеклообразных материалов AsxS1-x, AsxSe1-x, GexSe1-x в широком интервале температур | Воронова, Анна Евгеньевна | 2006 |