Закономерности релаксации упругих напряжений и диффузия в псевдоморфных SiGe/Si структурах
- Автор:
Аврутин, Виталий Семенович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
93 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование электронного энергетического строения кремния с кристаллографическими дефектами | Арзуманян, Грайр Вагаршакович | 1999 |
| Температурная зависимость сопротивления тонкопленочных резисторов на основе диоксида олова | Синёв, Илья Владимирович | 2014 |
| Электронные транспортные и тензорезистивные свойства композитов с углеродными наноструктурированными материалами и халькогенидов переходных металлов | Кузнецов, Виталий Анатольевич | 2019 |