Закономерности релаксации упругих напряжений и диффузия в псевдоморфных SiGe/Si структурах
- Автор:
Аврутин, Виталий Семенович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
93 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Создание фотодиодов на основе InSb, PbTe и CdxHg1-xTe и анализ их функционирования в составе оптико-электронных систем | Туринов, Валерий Игнатьевич | 2004 |
| Деградационные процессы в тонкопленочных солнечных элементах | Зезин, Денис Анатольевич | 2014 |
| Моделирование дозовых отказов КМОП ИС с учетом условий эксплуатации в космической аппаратуре | Безбородов, Валерий Никифорович | 1999 |