Закономерности релаксации упругих напряжений и диффузия в псевдоморфных SiGe/Si структурах
- Автор:
Аврутин, Виталий Семенович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
93 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние примесей на кинетику и механизмы окисления поликристаллических слоев селенида свинца при формировании фоточувствительных структур | Голубченко, Надежда Владимировна | 2004 |
| Влияние адсорбции цезия с кислородом и органических молекул на электронные свойства поверхностей полупроводников для эффективных эмиттеров | Наконечников, Александр Владимирович | 2005 |
| Туннельная атомно-силовая микроскопия твердотельных наноструктур | Филатов, Дмитрий Олегович | 2013 |