Текстура и упругие свойства гетерофазных поликристаллических материалов

• Автор: Абрамова, Влада Игоревна
• Шифр специальности: 05.16.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Тула
• Количество страниц: 138 с.

СОДЕРЖАНИЕ
Список условных обозначений
Введение
1. Аналитический обзор , . д.-'
1.1 Металлические композиционные материалы
1.2. Деформация композиционных материалов
1.3. Обзор моделей образования текстуры
1.4. Методы теоретического расчета текстуры
1.5. Экспериментальные методы определения текстуры металлов
Постановка задач исследования
2. Материалы и методы исследования
2.1. Исследуемые материалы. Технология процесса изготовления металлических порошковых композитов
2.2. Методы исследования структуры и механических свойств металлических композитов
2.2.1. Методы определения плотности и пористости порошковых изделий
2.2.2. Динамический метод определения характеристик упругости

2.2.2.1. Общие требования
2.2.2.2. Требования к проведению эксперимента
2.2.2.3. Форма и размер образцов
2.2.2.4. Обработка результатов
2.3. Нейтронографический структурный анализ
2.4. Методика получения полюсных фигур
2.4.1. Обработка экспериментальных данных
2.5 Метод геометрической аппроксимации для текстурного
анализа
3. Определение эффективных упругих модулей пластически деформированных гетерофазных микронеодно-
родных материалов
3.1. Физико-механические основы построения модели тексту-рообразования в двухкомпонентных микронеоднородных материалах
3.2. Определение характеристик формоизменения эффективного зерна
3.3. Алгоритм расчета эффективных упругих модулей тексту-рированного гетерофазного поликристаллического материала
3.3.1. Определение средних упругих констант в текстуриро-ванных компонентах
3.3.2. Методы определения эффективных упругих модулей гетерофазных материалов с изотропными нетекстурирован-ными компонентами
3.3.2.1. Вилка Фойгта-Ройса для эффективных модулей материала

3.3.2.2. Корреляционное приближение теории
микронеоднородных упругих сред
3.3.2.3. Обобщенное сингулярное приближение
3.3.3 Определение эффективных упругих постоянных
' в деформированном гетерофазном материале с
анизотропными текстурированными компонентами
Выводы ПО главе
4. Расчет упругих характеристик железо-медного ком-позиционного материала
4.1. Результаты нейтронографического эксперимента
4.2. Расчет средних констант упругости
4.3. Выбор расчетного метода определения эффективных упругих модулей
4.4. Расчет эффективных констант упругости
Выводы по главе
Заключение и общие выводы
Литература
Приложения

помощью можно получить необходимое количество полюсных фигур для восстановления ФРО.
Электронографический текстурный анализ
[51]. Использование сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) для определения преимущественной ориентировки
зерен является достаточно новым и потому не столь широко распространенным. Различают методы электронного сканирования (ЭС) и электронной дифракции обратного рассеяния (ЭДОР).
В результате электронного сканирования получают определенную линию конфигураций и полос, характеризующих ориентировку кристаллита в точке падения электронного пучка. Сам метод ЭС основан на том, что при падении электронов падающего пучка между кристаллографическими плоскостями решетки возникает небольшая доля электронов, рассеянных в обратном направлении. Для получения четкого сигнала эмиссии угол наклона электронного пучка к плоскостям должен измениться при сканировании на 2в для каждого определенного ряда межатомных плоскостей, участвующих в отражении. Более того, пучок должен быть коллимирован, так как изменения в сигнале эмиссии наблюдаются только тогда, когда большая часть электронов перемещается в одном направлении. Ре-гестрируемая электронографом или под электронным микроскопом дифракционная картина является точечной дифракционной картиной, которую можно рассматривать как практически неискаженную проекцию плоскости обратной решетки.
Картины электронного обратного сканирования (картины Ки-кучи) создают геометрически эквивалентные изображения. Картины ЭДОР возникают, когда стационарный пучок бьет по образцу так, что падающий пучок имеет сравнительно небольшие углы падения (~ 10 — 30°). Оптимальное пространственное разрешение метода ЭДОР составляет 0,1 — 1, 5 мкм, что превосходит метод ЭС (1