Основы проектирования дифференциально-групповых контрольно-регулировочных процессов производства компонентов и микроузлов радиоэлектронной аппаратуры

• Автор: Шелест, Дмитрий Константинович
• Шифр специальности: 05.12.13
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 436 с. : ил.

1. СОВРЕМЕННОЕ СОСТОЯНИЕ ПРОБЛЕМЫ ПОВЫШЕНИЯ ВЫХОДА ГОДНЫХ В
ПРОИЗВОДСТВЕ КОМПОНЕНТОВ И МИКРОУЗЛОВ РЭА
1.1. Современное состояние проблемы управления в задачах повышения выхода годных производства компонентов и микроузлов РЭАЛ9
1.2. Роль контрольно-регулировочных процессов в обеспечении выхода годных компонентов и микроузлов РЭА
1.3. Особенности использования контрольно-регулировочных процессов в производстве микроузлов РЭА
1.4. Способы реализации контрольно-регулировочных процессов в производстве микроузлов РЭА
1.5. Основные направления исследований и разработки контрольно-регулировочных процессов в производстве компонентов РЭА
1.6. Выводы
2. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РАЗРАБОТКИ й ПРИМЕНЕНИЯ КОНТРОЛЬНО-РЕГУЛИРОВОЧНЫХ ПРОЦЕССОВ В ПРОИЗВОДСТВЕ ШКР0УЗЛ0Б РЭА
2 Л. Системные представления об эффективности технологической системы
2.2. Основные задачи проектирования контрольно-регулировочных процессов в производстве компонентов и микроузлов РЭА
2.3. Специальные технологические методы на основе контрольно-регулировочных процессов в производстве компонентов и микроузлов РЭА
2.4. Технологическая классификация объектов производства - основа построения эффективных технологических процессов
2.5. Общая постановка задачи технологической компенсации проиэ-
водственных погрешностей
6. Постановка и решение задачи структурного синтеза системы контрольно-регулировочных процессов для заданной номенклатуры выпускаемых изделий
7. Выводы
МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ В ПРОИЗВОДСТВЕ КОМПОНЕНТОВ И МИКРОУЗЛОВ РЭА
1. Анализ и структура математических моделей контрольно-регулировочных операций
2. Топологические модели качества технологических объектов микроузлов РЭА
3. Модели электрических параметров технологических объектов производства компонентов и микроузлов РЭА
4. Выводы
АЛГОРИТМЫ й МЕТОДИКИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ КОНТРОЛЬНО-РЕГУЛИРОВОЧНЫХ ПРОПЕОООЕ ПРОИЗВОДСТВА КОМПОНЕНТОВ И МИКРОУЗЛОВ РЭА НА ОСНОВЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ КЛАССИФИКАЦИЙ
1. Системный анализ проблем автоматизации операций технологического визуального контроля и классификации
2. Разработка, критериев эффективности алгоритмов визуального контроля и классификации изображений технологических объектов
3. Обобщенная структурная схема системы автоматизированного технологического визуального контроля
4. Корелляционные методы технологического визуального контроля
и классификации технологических объектов
5. Исследование и разработка ассоциативных алгоритмов технологического визуального контроля и классификации технологичео-
6. Синтез оптимального алгоритма распознавания дефектов планарных структур прямоугольной топологии
7. Исследование и разработка гистограммных алгоритмов технологического визуального контроля и классификации технологических объектов
8. Исследование и разработка структурно-лингвистических алгоритмов технологического визуального контроля и классификации технологических объектов
9. Минимизация объема памяти ассоциативного запоминающего устройства лингвистического анализатора изображений
10. Исследование и разработка алгоритмов технологического визуального контроля и классификации технологических объектов на основе сигнатурного анализа изображений
11. Задача структурно-параметрического синтеза сигнатурного анализатора изображений технологических объектов
12. Выводы,
АЛГОРИТМЫ И МЕТОДИКИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ КОНТРОЛЬНО-РЕГУЛИРОВОЧНЫХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА КОМПОНЕНТОВ И МИКРОУЗЛОВ РЭА НА ОСНОВЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ КОМПЕНСАЦИЙ
1. Разработка методики оптимального комплектования микроузлов
на основе линейной модели точности
2. Выбор оптимальных соотношений полей рассеяния параметров комплектуемых компонентов
3. Разработка методики оптимального комплектования микроузлов
на основе модели точности, заданной аналитическим выражением24б
4. Разработка и исследование методики оптимального комплектования микроузлов на основе модели обобщенной погрешности ком-
ем специальных схемотехнических решений (специальных преобразователей гира,торов, варикапов и т.п.). Подгонка является наиболее распространенным методом обеспечения заданной точности микроузлов, а для ряда технологий, например толстопленочной технологии (где подгоняются 100% толстополеночных элементов) она является единственным средством получения необходимых допусков на параметры элементов и микроузлов в целом.
Увеличение степени интеграции микроузлов РЭА и соответствующее повышение функциональной сложности требует тщательного анализа ра-боспоообности схемы и оптимального синтеза номинальных значений и допусков на параметры элементов проектируемой аппаратуры с учетом использования контрольно-регулировочных операций. Естественно, что адекватность разрабатываемых моделей будет зависеть от степени учета констуктороко-технологических особенностей конструкции и ограничений технологии производства. В этой ситуации возникает еще одна проблема, связанная с ограниченным количеством перерегулировок интегральных элементов и резко ограничивающая использование итерационных алгоритмов регулировки. Реализация процессов подгонки осуществляется как правило необратимо, либо с использованием других режимов или технологического оборудования /25,35,40,50,55,56/.
Эффективность использования контрольно-регулировочных операций в производстве микроузлов РЭА существенным образом зависит от наличия достоверной априорной статистической информации о параметрах компонентов. Расчетные методы анализа и синтеза электронных схем базируются на знании не только физики ее работы, но и необходимости учета паразитных параметров конструкции, а также на знании законов распределения производственных погрешностей. В производстве РЭА на дискретных элементах эта информация терялась, так как предприятия-