Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО
Зарвальска, Анна
05.11.16
Кандидатская
2000
Варшава
123 с.
Стоимость:
499 руб.
ОГЛАВЛЕНИЕ
Список принятых в диссертации сокращений
Введение
Основные положения, выносимые на защиту
Г лава 1. Количественная аналитика порошковых и сыпучих
веществ
1.1. Информационно-измерительные основы количественной аналитики
1.2. Информационно-теоретические основы количественной аналитики
1.3. Особенности количественного спектрального элементного анализа проб порошковых и сыпучих веществ
Глава 2. Аналитический сопоставительный обзор методов и
средств ЛАЭС и ее важнейших применений
2.1. Лазеры для ЛАЭС
2.2. Процесс плазмообразования
2.3. Серийные ЛАЭС
2.4. Применения ЛАЭС
2.5. Постановка задачи
Глава 3. Выбор, обоснование, разработка и исследования методики и
схемных решений аппаратуры для количественного лазерного
спектрального микроанализа порошковых и сыпучих
веществ
3.1. Методы и особенности эмиссионного спектрального
анализа при лазерной атомизации
3.2. Портативный лазерный эмиссионный микроанализатор и его основные функциональные блоки
3.3. Методика обработки спектральных данных
3.4. Алгоритм и программа количественного элементного экспресс-анализа портативным лазерным микро анализатором
Г лава 4. Результаты количественного элементного анализа почв
и строительных материалов в полевых условиях
4.1. Аппаратура и оборудование для измерений в полевых условиях
4.2. Результаты измерений концентраций металлов в образцах почв, предоставленных Национальным институтом
стандартов и технологий (НИСТ, США)
4.3. Результаты анализа основных польских строительных материалов и образцов почв
Заключение
Литература
Приложения
Список введенных в работе сокращений
ИК - инфракрасный
ИС - интегральная схема
ЛАЭС - лазерная атомно-эмиссионная спектроскопия;
лазерный атомно-эмиссионный спектрометр ЛРА - локально-распределительная аналитика ПЗС - прибор с зарядовой связью
ПК - персональный компьютер
ПЭВМ - персональная ЭВМ
СО - стандартный образец, сертифицированный образец
С/Ш - сигнал/шум
УФ - ультрафиолетовый
ФЭУ - фотоэлектронный умножитель
Значение, измеренное на пределе обнаружения указывает верхний предел уровня помех («шума») данного способа анализа. Этот предел должен превосходить значение холостого опыта по меньшей мере на трехкратное стандартное отклонение, чтобы значимо отличаться от него:
гг№=и>8 + 3 ав. (1.30)
Однако вследствие разброса значений холостых и измеряемых величин аналитические данные у порога обнаружения лишь в 50% случаев дают измерительные сигналы, тогда как другую половину следует рассматривать как холостое значение, так как половина плоскости, ограниченной гауссовой кривой 2 (рис. 1.7), находится в пределах заштрихованной области шумов.
Измеренное значение лишь тогда отличается от порогового значения верхнего предельного уровня с достаточно высокой достоверностью (Р=0,998), когда
м'Е=м'к+За„. (1.31)
При Ои « Ств получим
мзв+бств, (1.32)
где уе обозначает измеряемое значение.
В случае линейных градуировочных функций лу=ау+Ь [а=£, у„=Ь; см. уравнение (1.9)] получаем для уЕ= ф( м'е)
Уе=6ов/Е. (1.33)
Величину уЕ (для данных о концентрациях чаще всего се ) называют пределом применимости данного способа анализа. Согласно уравнению (1.33), он зависит не от холостого значения, а от его разброса и от величины, обратной чувствительности.
Понятию разрешающей способности соответствует оценочное значение границы применимости некоего идеализированного способа анализа, при котором пренебрегают внешними мешающими факторами
Название работы | Автор | Дата защиты |
---|---|---|
Оценка производительности вычислительного комплекса информационно-измерительной и управляющей системы специального назначения | Баштанник, Николай Андреевич | 2010 |
Разработка и исследование информационно-измерительных систем контроля конвейерного оборудования | Муратов, Ирек Мугазамович | 1984 |
Методы синтеза радиооптических информационно-измерительных устройств и систем на основе резонансных многослойных оптических структур | Макарецкий, Евгений Александрович | 2001 |