Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Повышение эффективности вибродиагностики с использованием пьезоэлектрических и вихретоковых преобразователей | Кирпичев, Александр Александрович | 2006 |
| Метод и средство контроля объёмного расхода газа в процессах с малыми газовыделениями | Лунин, Максим Викторович | 2010 |
| Ультразвуковой контроль толщины стенок деталей априорно неизвестной конфигурации | Зайнуллин, Фарид Раилевич | 2001 |