Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптимизация диагностических систем теплового контроля | Абрамова, Елена Вячеславовна | 2011 |
| Разработка стационарного метода и устройства для определения зависимостей теплопроводности и реологических характеристик неньютоновских жидкостей от скорости сдвига | Мозгова, Галина Владимировна | 2007 |
| Методы и устройства контроля состава и свойств ферромагнитных жидких сред в диапазоне СВЧ | Дмитриев, Дмитрий Александрович | 1998 |