Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов», автор — Шелковников, Евгений Юрьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.13. Работа подготовлена в городе Ижевск в 2000 году. Объем работы: 177 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000311191. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка методов анализа данных при вихретоковом контроле цилиндрических изделий многоэлементными преобразователями | Крюков, Александр Сергеевич | 2016 |
| Разработка стационарного метода и устройства для определения зависимостей теплопроводности и реологических характеристик неньютоновских жидкостей от скорости сдвига | Мозгова, Галина Владимировна | 2007 |
| Разработка программно-алгоритмического обеспечения при измерении траекторных параметров объектов | Белозёров, Вадим Анатольевич | 2012 |