Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Автоматизированное устройство для измерения вязкости жидкости по методу Пуазейля | Чупаев, Андрей Викторович | 2010 |
| Разработка способа структуроскопии металла рельсов, основанного на измерении акустических шумов и скоростей волн | Байтеряков, Александр Викторович | 2018 |
| Методы и приборы контроля полей α-, β-, γ-излучений и радона в системе "грунт-атмосфера" | Яковлева, Валентина Станиславовна | 2013 |