Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метод контроля влияния процессов окисления и температурной деструкции на противоизносные свойства моторных масел | Юдин, Алексей Владимирович | 2014 |
| Развитие теории, создание способов, средств и технологии определения ресурса безопасной эксплуатации трубопроводов магнитными методами неразрушающего контроля | Кузнецов, Алексей Николаевич | 2013 |
| Исследование и разработка метода неразрушающего контроля качества никелевых и никель-хромовых покрытий узлов жидкостных ракетных двигателей | Калошин, Валентин Александрович | 2013 |