Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование магнитоэлектрического метода неразрушающего контроля и разработка средств дефектоскопии на его основе | Уткин, Дмитрий Николаевич | 2004 |
| Аппаратно-программные средства электронного канала спектрофотометрического детектора для высокоэффективной жидкостной хроматографии | Печеровый, Антон Витальевич | 2006 |
| Метод оперативного контроля состояния парафиновых отложений при очистке демонтированных нефтепроводных труб | Орлов, Александр Игоревич | 2011 |