Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов», автор — Шелковников, Евгений Юрьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.13. Работа подготовлена в городе Ижевск в 2000 году. Объем работы: 177 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000311191. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метод и средство контроля объёмного расхода газа в процессах с малыми газовыделениями | Лунин, Максим Викторович | 2010 |
| Методика повышения точности и расширения функционального назначения атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов | Пимшин, Дмитрий Александрович | 2008 |
| Контроль технологических напряжений в валах машин из высокопрочных конструкционных сталей методом магнитных шумов | Ковалев, Дмитрий Алексеевич | 2005 |