Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
- Автор:
Шелковников, Евгений Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
177 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метод и средства измерения плотности теплового потока в грунте на основе многозонного термопреобразователя сопротивления | Никитин, Кирилл Андреевич | 2015 |
| Теоретические основы разработки устройств систем контроля и управления динамическими испытаниями и вибродиагностикой машин | Леньков, Сергей Викторович | 2006 |
| Оптимизация параметров многоканальных непрерывно-сканирующих систем цифровой рентгенографии | Лебедев, Михаил Борисович | 2009 |