Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации
- Автор:
Самойленко, Иван Иванович
- Шифр специальности:
01.04.18
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
144 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Атомно-силовая микроскопия кристаллов и пленок со сложной морфологией поверхности | Толстихина, Алла Леонидовна | 2013 |
| Рентгенооптические методы - полное внешнее отражение с учетом рассеяния и микроскопия - в анализе границ раздела конденсированных фаз | Асадчиков, Виктор Евгеньевич | 2003 |
| Рост, структура и свойства кристаллов простых и сложных сульфатов никеля и кобальта | Маноменова, Вера Львовна | 2013 |