Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации
- Автор:
Самойленко, Иван Иванович
- Шифр специальности:
01.04.18
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
144 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и экспериментальная реализация метода получения точных и воспроизводимых структурных параметров из дифракционных данных | Дудка, Александр Петрович | 2012 |
| Пространственная структура комплексов и механизм каталитического действия фермента SAICAR-синтазы Saccharomyces cerevisiae | Урусова, Дарья Владимировна | 2006 |
| Исследование влияния электрического поля на рост кристаллов раствор-расплавным методом | Ксенофонтов, Дмитрий Александрович | 2010 |