Исследование короткоживущих ядер тулия методом фотоионизационной спектроскопии в новом высокотемпературном мишенно-ионном устройстве масс-сепаратора ИРИС

• Автор: Федоров, Дмитрий Валерьевич
• Шифр специальности: 01.04.16
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2001
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 119 с.

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. ИССЛЕДОВАНИЕ НОВОГО ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОГО
МИШЕННО-ИОННОГО УСТРОЙСТВА МАСС-СЕПАРАТОРА ИРИС
1Л. Экспериментальный комплекс ИРИС
1.2. Новое высокотемпературное тугоплавкое мишенное устройство
1.3. Исследование температурных и прочностных характеристик нового высокотемпературного мишенного устройства. Излучательная способность вольфрамового контейнера
1.3.1. Температурное распределение в мишенном веществе
1.3.2. Измерение излучательной способности
1.3.3. Время жизни мишени
1.3.4. Выводы
1.4. Времена задержки и выделение исследуемых изотопов из мишеней в виде тонких фольг тугоплавких металлов
1.4.1. Основные факторы, определяющие время задержки исследуемых нуклидов в мишенно - ионном устройстве
1.4.2. Оценка выходов получаемых изотопов, когда задержка в мишени определяется диффузией
1.1.3. Эффект “банчирования” и накопления ионов
1.1.4. Возможные области применения обнаруженного эффекта банчирования ионов
1.5. Исследование высокотемпературного мишенно-ионного устройства в режиме “on-line”
1.5.1. Методы измерения выходов и времен полувыделения изотопов щелочных элементов
1.5.2. Теоретическое представление полученных кривых полувыделения
1.5.3. Измерение выходов и времен полувыделения изотопов лития

1.5.4. Обсуждение результатов экспериментов по получению изотопов лития
1.5.5. Выводы
1.5.6. Измерение выходов и кривых полувыделения изотопов щелочных элементов Иа, К, ЛЬ и Ся
1.6. Исследование выходов изотопов редкоземельных элементов
1.6.1. Метод измерения выходов исследуемых изотопов
1.6.2. Определение величины выхода исследуемого изотопа из мишени по экспериментальным а - спектрам
1.6.3. Определение величины ожидаемого в лазерном эксперименте выхода исследуемого изотопа
1.6.4. Измерение а - спектров нейтронодефицитных изотопов редкоземельных элементов
1.6.5. Обсуждение полученных результатов
1.7. Заключение к Главе
ГЛАВА 2. СРЕДНЕКВАДРАТИЧНЫЕ ЗАРЯДОВЫЕ РАДИУСЫ И ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ МОМЕНТЫ НЕЙТРОНОДЕФИЦИТНЫХ ИЗОТОПОВ ТУЛИЯ В ОКРЕСТНОСТИ НЕЙТРОННОЙ ОБОЛОЧКИ N=
2.1. Метод лазерной резонансной фотоионизационной спектроскопии в
лазерном ионном источнике
2.2. Схема эксперимента по исследованию изотопических сдвигов и
сверхтонкого расщепления нейтронодефицитных изотопов тулия
2.3. Фоновые условия эксперимента и селективность метода
2.4. Применение эффекта запирания ионов в высокотемпературном мишенном
устройстве для уменьшения фона тока термоионов и повышения селективности
2.4.1. Эффект запирания ионов в мишенном устройстве

2.4.2. Лазерное мишенно-ионное устройство, использующее эффект запирания
2.4.3. Подавление термоионного фона самария и европия для выделения изобар гадолиния
2.4.4. Возможные применения эффекта запирания ионов в мишенном устройстве
2.5. Измерение изотопических сдвигов и сверхтонкого расщепления нейтронодефицитных изотопов тулия
2.6. Извлечение ядерных характеристик из сверхтонкой структуры и изотопических сдвигов
2.7. Обсуждение полученных результатов
2.8. Заключение к Главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Приложение
Литература

Это не относится к элементам с более высокими потенциалами ионизации. На рис. 7 и 8 показаны банчи ионов УЬ, которые точно повторяют форму синусоиды нагревающего напряжения. Следовательно, десорбционное время задержки для атомов иттербия может быть много больше 10 мс.
Времена десорбции для щелочных элементов (определенные по кривым типа приведенных на рис. 7) приблизительно составляют 1 мс для данного мишенного устройства. Уширение банча Сб по сравнению с 1л (рис. 7) происходит благодаря разнице во времени пролета (соотношение ширин банчей цезия и лития соответствует квадратному корню из отношения масс данных изотопов).
Полученная таким образом информация исключительно важна для понимания процессов, определяющих время задержки щелочных элементов в мишенном устройстве.
время, мс
Рис. 8. Банчи ионов 174УЪ, повторяющие форму нагревающего напряжения.