Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями
- Автор:
Мусихин, Юрий Геннадьевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
170 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями», автор — Мусихин, Юрий Геннадьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2000 году. Объем работы: 170 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000251472. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Формирование и полупроводниковые свойства тонких слоев на основе Fe и Ca2Si на Si(111) | Фомин, Дмитрий Владимирович | 2010 |
| Исследование методом эллипсометрии диэлектрических и полупроводниковых структур микроэлектроники | Резвый, Ростислав Ростиславович | 1998 |
| Влияние давления на гальваномагнитные свойства полупроводниковых соединений TlSe и его аналогов | Гасымов, Шафаг Гусейн оглы | 1984 |