Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями
- Автор:
Мусихин, Юрий Геннадьевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
170 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями», автор — Мусихин, Юрий Геннадьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2000 году. Объем работы: 170 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000251472. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование фотоэлектрических явлений в структурах с Р-П-переходом на базе антимонида индия | Гим Гван Дё, 0 | 1984 |
| Механизмы модификации электронной структуры, светоизлучающих свойств и состава поверхности пористого кремния в процессе водного дотравливания | Апполонов, Сергей Владимирович | 2005 |
| Фотолюминесцентные свойства ионов эрбия в слоях твердых растворов кремний-германия и в структурах с кремниевыми нанокристаллами | Жигунов, Денис Михайлович | 2006 |