Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями
- Автор:
Мусихин, Юрий Геннадьевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
170 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Люминесценция кристаллов вольфраматов двухвалентных элементов и свинца | Якимова, Ирина Олеговна | 2008 |
| Формирование и свойства полупроводниковых пленок и структур для приемников УФ излучения | Гудовских, Александр Сергеевич | 2002 |
| Свойства горячих электронов в квантовых ямах и сверхрешетках GaAs/Al x Ga1-x As | Акимов, Илья Андреевич | 2000 |