Электронная микроскопия полупроводниковых структур с наноразмерными включениями
- Автор:
Мусихин, Юрий Геннадьевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
170 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Физические основы инженерии дефектов в технологии кремниевых силовых высоковольтных и светоизлучающих структур | Соболев, Николай Алексеевич | 2009 |
| Моделирование переходных процессов в силовых полупроводниковых приборах | Рабкин, Петр Беньяминович | 1983 |
| Оптоэлектронные свойства бирефрактивных кристаллов А2В5 и приборов на их основе | Стамов Иван Григорьевич | 2017 |