Электронная микроскопия полупроводников с учетом реальных закономерностей освещения образца и рассеяния электронов
- Автор:
Боргардт, Николай Иванович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
335 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние глубоких центров на физические процессы в кремниевых барьерных структурах | Холомина, Татьяна Андреевна | 1999 |
| Влияние водородсодержащих газов на электрические характеристики МДП-структур и МДП-диодов | Дученко, Мария Олеговна | 1998 |
| Явления электронного переноса при низких температурах | Пашаев, Хафиз Мир Джалал оглы | 1984 |