Электронная микроскопия полупроводников с учетом реальных закономерностей освещения образца и рассеяния электронов
- Автор:
Боргардт, Николай Иванович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
335 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Инфразвуковая диэлектрическая спектроскопия неполярных и полярных фторсодержащих полимерных пленок | Карулина, Елена Анатольевна | 2000 |
| Теплопроводность халькогенидов свинца и твердых растворов на основе PbTe | Алексеева, Галина Тарасовна | 1984 |
| Разработка методики и изучение ультраакустических свойств расплавов полуметаллов и полупроводников | Ким Сен Гук, 0 | 1985 |